从静态限值转移到动态零部件平均测试 (PAT) 限值
案例研究
从静态限值转移到动态零部件平均测试 (PAT) 限值
节省生产废料，同时提高产品质量
当前芯片短缺问题预计将继续给半导体和 IC 制造商带来压力，尽管他们加大了资本支出以提高制造能力，但即便在一切顺利的情况下，这也需要几年的时间才能稳定下来。在满足客户需求和交付方面已经存在挑战，这些延误导致下游出现进一步的问题，至少一家汽车制造商因零部件短缺而暂时关闭了汽车生产线。现在的挑战是充分利用现有的设备交付更多组件，直到新产能上线。
例如，一家大批量汽车微控制器设备制造商面临着提高设备效率，但又不影响设备测试过程质量的挑战。PathWave 制造分析在生产中的成功和快速部署不仅帮助他们提高了整体设备效率和整体吞吐量，而且还保持了设备测试过程的质量，并进一步减少了由于误报和重测而产生的花费不菲的报废品。使用 PathWave 制造分析解决方案对生产流程带来了显而易见的改变，从而取得显著的业务成果，例如节省成本和降低劣质成本。
- 组织：大批量汽车微控制器制造商
- 挑战：在不影响设备测试过程质量的情况下提高设备效率
- 解决方案：PathWave 制造分析 (PMA)
- 结果：
- 将误拒、不必要的报废品总数减少 2% 以上
- 整体设备效率提升 2% 以上
挑战
大批量汽车微控制器设备制造商希望在不影响设备测试过程的情况下，通过设备效率提高整体吞吐量。该过程步骤已经报告了 CPK 大于 2 (CPK = 2.0 = 6 Sigma)。原始静态生产测试流程的一般说明：
- 根据 AEC-Q001 零部件平均测试指南，测试设备使用静态零部件平均测试 (PAT)限值来确定每个被测器件的测试结果是通过还是失败。静态 PAT 限值比允许限值波动的器件规格更严格，但它需要考虑批次间的变化，因而限值范围比其他情况更宽。
- 确定每个批次的静态 PAT 限值的过程会占用测试仪的生产时间。这是在使用高质量器件的批次开始时完成的，因为在生产线的连续流程中无法对这些器件进行后处理。
- 批次内器件测量值的任何显著偏差都可能导致不必要的失败、误拒，并将导致重测以确认它们是真的好还是坏。
- 如果批次中的坏器件总数不超过统计仓位限值，则坏器件将被报废。如果坏器件太多，则需要关闭设备并调查这么多装置出现失败的原因。
- 同一条生产线第二次用于重测器件，因为它们在第一次失败后被送回处理程序。
- 测试设备由一个处理程序组成，其中有多个列队器件测试仪来并行测试器件。如果器件测试仪遇到问题，或者与处理程序中的其他器件测试仪相比，它们显示出较高的器件失败率，则可以单独关闭每个器件测试仪。
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