使用 PathWave 制造分析 获得测试覆盖率保证
应用指南
使用 PathWave 制造分析获得测试覆盖率保证
质量为王
生产高质量的产品是制造业的最大目标，也是一个不可妥协的选择。在产品生命周期的每个阶段，即从设计到早期验证，再到大规模生产测试，高质量要求始终贯穿其中。工程师开发了具有最佳测试覆盖率的测试，以确保所有有缺陷的产品都留在工厂。
制造商最不希望发生的事情就是让有缺陷的产品从工厂流入市场，送到客户手中。在最不严重的情况下，如果产品在保修期之前过早出现故障，就会影响公司声誉和客户忠诚度。在关键任务情况中，有缺陷的产品甚至可能导致生命损失和其他严重的悲剧后果。
是德科技的 PathWave 制造分析 (PMA) 是一个工业 4.0 实时大数据分析解决方案，不仅有助于提高制造效率，更重要的是为制造商提供可行性见解，以确保生产线上的测试质量绝不会受到损害。
挑战
通常，在发布产品进行量产之前，将进行测试覆盖率验证。这是为了确保所有组件和功能都按照所需规格的适当上限和下限进行测试。这里的挑战是用户如何在量产测试期间有效地监控测试覆盖率。
- 如果在生产测试期间，其中一个测试的限值发生了变化，该怎么办？
- 如果在生产测试期间，跳过测试计划中的一个测试，该怎么办？
- 如何在发生此类不合规情况时实时通知用户？
任何不正确的限值变化或跳过的测试都将危及质量度量。
解决方案：PathWave 制造分析测试覆盖率监视器
是德科技是测量科学领域的领导者，它在技术中融入了数据科学，在 PathWave 制造分析 (PMA) 解决方案中引入了全新的行业领先分析技术。通过 PMA 实施，可将本地许多测试系统每秒生成的数千个测试测量数据（以数据记录文件的形式）无缝地传输并输入到 PMA 服务器中。PMA 有多个流式实时分析仪，用于监控这些传入的测试测量数据，包括限值和测试覆盖率的变化，直至最低粒度级别。
让我们深入了解一下测试覆盖率监视器，它检测测试覆盖率（即执行的测试次数）方面的任何变化，以测试产品（通常称为被测设备 (DUT)）的质量。为此，它将检查针对每个通过的电路板执行的测试名称的实际数量，将其与预期总数进行比较。例如，对于项目 A，根据工程师为项目 A 开发的测试程序，有100 个测试名称（R1、C1...）要执行，这意味着每个通过的电路板数据记录将有 100 个测试测量。测试覆盖率监视器将在测试完成后根据此数量检查每个通过 DUT 的测试执行次数。麻烦的是，为了做到这一点，生产操作员需要在任何检查解决方案中手动输入任何一个产品型号和版本的参考数字。在有许多型号和版本的现实环境中，这种实现方式非常繁杂且不切实际。如果有正式修改测试的工程变更单 (ECO)，用户还必须更新参考数字。
为了克服这个问题，PMA 在测试覆盖率监视器中开发了一个自动学习过程。它会根据实时分析的数据进行学习，让我们来看看它是如何工作的。对于测试覆盖率监视器，用户可以定义通过的电路板数，以供 PMA 学习和建立基线参考；此基线参考是项目的通过电路板的测试执行预期次数。根据图 1，PMA 将从 20 个通过的电路板（连续一致的测试执行次数）中学习，以建立基线参考，以便在测试覆盖率监视器作业中进行比较。
自动学习基线参考
参考图 2，假设一个项目生成了 3 个测试：即 R1、C1 和 L1 测试。
- 第 1 个电路板 (SN1) 测试通过，注册 3 个测试（R1、C1 和 L1）。
- 第 2 个电路板 (SN2) 测试通过，注册 2 个测试（R1 和 C1）。
- 对于接下来的 20 个通过的电路板（SN3 到 SN22），注册 3 个测试（R1、C1 和 L1）。这满足 20 个连续一致通过电路板的标准（根据应用程序设置），建立的基线参考就是为通过的电路板执行 3 次测试。
- 第 23 个电路板 (SN23) 测试通过，注册 2 个测试（R1 和 C1）。此时，将向用户触发测试覆盖率更改警报。
- 同理，第 24 个电路板 (SN24) 测试通过，注册 2 个测试（R1 和 L1）。将向用户触发测试覆盖率更改警报。
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