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多端口和多站点测试优化技术 - 应用指南

应用指南

随着元器件上的端口越来越多,测试人员需要进行精准、快速的多端口网络分析。优化矢量网络分析仪(VNA)的配置是最大限度降低制造阶段测试成本的关键。本应用指南概括介绍了多端口和多站点测试的功能,对不同的多端口测试解决方案进行了比较,最后讨论了在配置多点测试站时都需要考虑哪些问题。

概述

降低测试成本是大批量元器件生产中面临的主要挑战。随着元器件上的端口越来越多,测试人员需要精准、快速的多端口网络分析。最大限度地减少操作人员干预、减少连接和校准次数都会对测量吞吐量产生很大影响,而最大限度地降低测试成本的关键是优化矢量网络分析仪(VNA)的配置。

应用现代化仪器(如具有先进功能的多端口 PXI VNA)可以提高大批量生产测试的测量吞吐量。 Keysight PXI VNA 引入了许多新功能,在提高吞吐量的同时提供了比传统台式解决方案更灵活的测试配置。对于多端口应用,PXI VNA 提供了真正的多端口功能,使测试工程师可以在一个 PXI 机箱内配置多达 32 端口的 VNA。此外,它的外形可以重新配置,与许多常规 VNA 仪器相比,进行多站点或并行测试时占用的空间更小。本应用指南概括介绍了多端口和多站点测试功能。多端口测试解决方案有哪些不同类型,它们有何优缺点?配置多点测试站时需要考虑什么问题,哪些因素可能会影响整体的测试吞吐量?本应用指南对 PXI VNA 以及优化测试站的技术进行了详细说明。

日益增加的多端口测试需求

在网络分析的早期,所有的测量重点都集中在 2 端口 S 参数上。随着用户越来越多地需要测试功分器、混频器、差分器件等器件,VNA 的功能不断扩展,最终演进到 4 端口VNA。现在,任何需要四个以上端口进行网络分析的器件都被视为多端口器件。当今许多元器件都在单个元件上集成了多种功能。这些元器件的端口数量不断增加,复杂性也随之增加。例如支持智能手机多频段工作的射频前端模块(FEM),多路输入 /多路输出(MIMO)天线,以及高速数字应用中的无源互连产品,如射频连接器或电缆组件。某些多端口器件可以仅仅当作一系列 2 端口测量来进行测试,而许多应用需要对其器件进行更彻底的多端口测试。随着多端口器件的测量参数越来越多,大批量制造商希望能尽量缩短整体测试时间。

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