Column Control DTX
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如何测量变频器相位噪声

微波网络分析仪
+ 微波网络分析仪

使用 VNA 及其配备的直接数字合成器信号源测量相位噪声

在测试 5G 和卫星应用中的变频器时,您需要捕获多个不同参数,例如增益、相位、时延、互调失真(IMD)、增益压缩和噪声系数。 相位噪声的测量极具挑战性,因为内部体系结构、振荡器类型、内外部频率参考以及内置功能都对其有影响。 您还必须探测输出相位噪声的来源。

要想测量相位噪声,应选择配有直接数字合成器(DDS)信号源的矢量网络分析仪(VNA),用它来确定器件输出端的相位噪声是来自器件本身还是来自输入信号。 将第三个信号源添加到测试系统中,充当被测器件(DUT)的本地信号源。这样,即使不使用外部信号发生器,也可进行双音或双级变频器测量。 第三个信号源也可以充当参考信号,用于需要外部参考时钟信号的 DUT 或者是其他测量仪器。

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PNA-X 相位噪声测量解决方案

PNA-X 相位噪声测量解决方案

在表征相位噪声时,您需要捕获许多关键参数,例如增益和噪声系数。 Keysight PNA-X 相位噪声测量解决方案使用直接数字合成器(DDS)作为信号源,可执行更稳定的相位噪声测量,并可提供更高的测量性能。 这个解决方案以 Keysight PNA-X 微波网络分析仪为基础,能够测量放大器、混频器和变频器等有源器件。
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