Column Control DTX
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如何测量射频相位噪声

信号分析仪
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通过先进的测量方法改善射频相位噪声测量

在优化射频传输中的窄信道通信时,测量相位噪声是必不可少的一个环节。 稳定度较低的振荡器会产生相位噪声,在时域中表现为抖动。 相位噪声会影响信号质量,导致通信链路的误码率上升。 与其他信号噪声不同,相位噪声在频谱域中最好辨别。

目前测量相位噪声的方法主要有三种:直接频谱法、相位检波器法和双通道互相关法。 直接频谱法使用频谱/信号分析仪等仪器来测量宽带信号的频谱能量,但由于幅度噪声过于接近相位噪声,所以有很多的限制。 有些先进应用会使用专用的相位噪声测量仪器,这种仪器通常采用相位检波器法和双通道互相关法。 这两种方法主要适用于基带信号,因此您需要一个下变频器。

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射频相位噪声测量解决方案

射频相位噪声测量解决方案

在测量射频和微波频率的相位噪声时,您需要使用专门的相位噪声测量仪器。 是德科技射频相位噪声测量解决方案使用了 Keysight N5511A 相位噪声测试系统、Keysight E5055A SSA-X 信号源和 Keysight E5053A 微波下变频器,具有超低的本底噪声,可以交付准确的相位噪声测量结果。 它能够测量最低达到 kT(-177 dBm/Hz)的绝对相位噪声和残余相位噪声。
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