什么是光谱测量？
光谱测量的定义
光谱测量是指分析光强随入射波长变化的分布过程。在光学散射领域，它涉及测量不同波长的光被某种材料或表面散射的情况。
此类测量可提供有关材料光学性质的关键信息，例如其折射率、吸收系数和散射系数，这些是准确表征和设计光学系统基础 。
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光谱测量为何对光学设计至关重要？
光谱测量可为您提供精准的数据，助您最大限度地减少材料中的非预期散射和吸收。例如，它有助于提高透镜、反射镜和镀膜等光学器件的效率和清晰度。
在光学设计中，精确的仿真结果取决于准确的光学特性。仅凭几何形状无法决定光分布；正是光学特性决定了光线能量和方向的变化。 因此，尽可能精确地掌握设计中将要使用的材料的光学特性至关重要。获取精确光学特性的最佳方法是直接在材料上进行测量，并将数据导出到光学仿真软件中使用。凭借这一能力，研发工程师能够根据给定的光学特性设计出合适的材料。
您进行的测量类型可能取决于材料的性质。例如，对于有色材料而言，光谱双向散射分布函数（BSDF）测量可能最为相关，因为了解光在不同波长下与材料的相互作用，有助于优化光学系统的性能。
是德科技为光谱测量提供了哪些解决方案？
是德科技REFLET 180S是一款专为精确测量光散射特性而设计的专用仪器。该仪器配备两种检测方式：用于经典后向散射光强分布（BSDF）测量的光电二极管，以及用于光谱测量的分光光度计。
您可以在 380 nm 至 760 nm 的波长范围内测量光谱BSDF（即随波长变化的BSDF）。
测量的波长数量可变，最小步长为 0.62 nm。该分光光度计的动态范围为 4096:1。
右侧图示为在10°入射角下对黑色金属化样品进行的谱双向反射分布函数（BRDF）测量结果。
我们使用分光光度计检测器，通过是德科技（Keysight）REFLET 180S 获得了这些结果。
如您所见，该样本在较长波长下的BRDF呈现出更强的镜面反射特性，这可能会对系统性能产生显著影响。
是德科技 REFLET 180S 提供了一种强大的光谱测量解决方案，具备高精度与高准确度、宽光谱范围、进阶 分析功能、用户友好的界面、多功能性，并能与光学设计软件无缝集成。
这些特性使其成为光学设计师优化设计、确保设计满足所需性能规格的不可或缺的工具。此外，REFLET 180S 可与是德科技的光学设计工程软件无缝集成。
提高设计精度和效率
支持将光谱数据直接导入光学设计模型，从而提高设计流程的准确性和效率。了解 REFLET 180S 如何融入是德科技光学设计工程 。
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