HIGHLIGHTS

主要优势

  • 快速访问内部FPGA信号
  • 在数秒钟之内进行增量测试而不改变设计时间
  • 可访问多达128种内部信号,用于每个调试专用的针
  • 可在状态(同步)模式或定时(同步)模式中进行测量

自动设置

  • 从FPGA设计工具中自动导入信号名称
  • 自动针映射能减少错误,节省时间

兼容性

B4655A 主要特点

  • 查看FPGA的内部操作。对调试专用的每个针脚,您现在可以查看最多64个内部信号。
  • 可以在几秒内在内部探点之间切换。如果没有这种功能,在逻辑分析仪中移动FPGA内部探点需要耗费大量的时间。现在,您只需不到一秒的时间,就可以简便地测量一套不同的内部信号,而不需重新汇编,从而使FPGA定时保持不变。
  • 利用您在设计环境中已经完成的工作。FPGA动态探头可以把FPGA设计工具的内部信号名称映射到逻辑分析仪上。自动设置总线名称和信号消除了错误,节约了时间。
  • 软件更新服务,包括1年的节点锁定许可。
  • 可以用于16900系列主机、1680系列和1690系列逻辑分析仪。
  • 探测Xilinx Virtex-II Pro系列、Virtex-II系列和Spartan-3系列设备。
  • 兼容ChipScope Pro Core Inserter和Core Generator产品。 http://www.xilinx.com/ise/verification/chipscope_pro.htm
FPGA Dynamic Probe for Xilinx FPGA

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