经济高效、性能卓著、全面整合

是德科技的测量应用专家团队和 ATE 测试工程师可以帮助您解决现成的解决方案或传统测量技术无法解决的复杂测量难题。 是德的测试系统解决方案针对测试性能、成本和部署速度等方面进行了优化,相比内部研发或选择其他系统集成商,可以更好地满足您的测试测量需求。

ATE 测试服务包括:

  • ATE 解决方案的设计、开发和整合
  • 测量过程分析和咨询
  • 实现简单易用的软件界面
  • 在工厂中自动执行测试过程
  • 可提供并支持所有主要品牌的仪器

ATE 测试常见问题解答

ATE测试,即自动化测试设备(测试,是半导体制造领域中通过专用自动化系统对集成电路芯片的功能、性能和可靠性进行高效、批量验证的关键环节。

该测试利用计算机控制的精密仪器和定制软件,对芯片的电气参数、逻辑功能及动态特性进行系统化测量与数据分析,旨在确保芯片在出厂前符合设计规格并筛除缺陷产品,是提升生产良率、保障终端产品质量的核心技术手段。

ATE测试系统是一种高度集成的自动化测试平台,其核心功能是在半导体制造流程中对集成电路芯片进行规模化、高效率的电性参数和功能性能测试。

ATE测试系统通常由精密测量单元、高速数字引脚、器件电源、测试头以及测试程序组成,并通过主控计算机执行定制化测试算法,实现对芯片直流参数、交流特性、逻辑功能及动态时序的精准测量与数据分析。

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