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探索是德科技完整的软件产品组合,涵盖从设计工程工具到仪器软件旨在扩展和增强您仪器。无论您是在配置测量、自动化测试、分析数据还是验证合规性,都可以使用下面的筛选器来确定支持您工作流程的合适软件——从设计和验证到制造和部署。
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KS8328APathWave TAP 上运行,可快速创建自动化测试计划,从而缩短开发时间,提升用户体验。
KS8328APathWave TAP 上运行,可快速创建自动化测试计划,从而缩短开发时间,提升用户体验。
PathWave (PTEM)是一个插件,能够为用户使用PathWave (TAP)开发自动化测试程序提供更好的体验。 在各种产品混合共存的制造环境中,测试平台的维护、强化和控制可能非常困难,我们强大的PathWave 避免维护或开发测试平台的麻烦。在开发测试执行平台时,需要优先考虑的不是如何分配宝贵资源,而是如何优化和提高测试覆盖率。
利益优先
PathWave 、部署和开发三种许可证,您可以利用这些许可证有效开发和部署测试计划,从而灵活管理测试成本。
PathWave 、部署和开发三种许可证,您可以利用这些许可证有效开发和部署测试计划,从而灵活管理测试成本。
该工具专为测试开发设计,用于在投入生产环境运行前进行测试开发。它提供全面的测试开发功能,包括配置、数据准备、测试生成、测试用例生成以及调试。
该工具专为测试开发设计,用于在投入生产环境运行前进行测试开发。它提供全面的测试开发功能,包括配置、数据准备、测试生成、测试用例生成以及调试。
边界扫描分析仪的运行时许可证提供全面的测试解决方案,完全符合最新的IEEE 1149.1-2013标准。该许可证专为生产运行时测试设计。
边界扫描分析仪的运行时许可证提供全面的测试解决方案,完全符合最新的IEEE 1149.1-2013标准。该许可证专为生产运行时测试设计。
M6802B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件仪器 嵌入式仪器 。
M6802B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件仪器 嵌入式仪器 。
M6803B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件仪器 嵌入式仪器 。
M6803B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件仪器 嵌入式仪器 。
结果分析器是一款分析原始测试结果的工具,能够精确定位导致测试失败的设备引脚位置。
结果分析器是一款分析原始测试结果的工具,能够精确定位导致测试失败的设备引脚位置。
软件版本2.0升级计划(运行时与测试开发)是一项服务,可让用户为其是德科技x1149边界扫描分析仪获取最新软件修订版本。
软件版本2.0升级计划(运行时与测试开发)是一项服务,可让用户为其是德科技x1149边界扫描分析仪获取最新软件修订版本。
启用外部源文件导入功能,用于编程CPLD/FPGA器件。
启用外部源文件导入功能,用于编程CPLD/FPGA器件。
PM2288APathWave 4.0 电子数据分析解决方案,全力推动制造业发展。
PM2288APathWave 4.0 电子数据分析解决方案,全力推动制造业发展。
PathWave 专业技术与数据科学及大数据工程融为一体,为未来智能工厂中组织的各个层级提供切实可行的洞察。通过真正有效的大数据先进分析,有助于提高良率,减少返工和处理任务,降低因质量问题产生的成本。凭借独特的创新分析,助您更快获得投资回报,取得丰硕的业务成果。
描述
诊断
前瞻性
规范性
TestExec SL是一款高度灵活的测试执行软件,适用于多种行业的电子制造功能性测试应用。
TestExec SL是一款高度灵活的测试执行软件,适用于多种行业的电子制造功能性测试应用。
Keysight TestExec SL 是一款可定制的、高度灵活的测试程序,专为多种行业的电子制造功能测试应用而开发。
这款现成的测试程序具有可完全定制的操作界面、支持多种仪器集成的开放式体系结构、灵活的测试序列、简单易用的调试工具,以及适用于大多数制造测试环境的线路集成工具,为测试开发人员提供了极大的帮助。
TestExec SL 能够提高生产效率,尤其在测试自动化方面具有独特优势,且操作极其简便。借助最新发布的 TestExec SL 7.1,您现在可利用多线程功能提升执行吞吐量并缩短空闲时间。
TestExec SL 7.1
TestExec SL 的用户手册和帮助文件已在安装文件中提供。
用户还可使用Silicon Nails测试开发工具自定义对不合规边界扫描器件执行的测试向量。该工具将生成边界扫描测试,通过在相关互连引脚上输出或输入信号来实现测试一致性。
用户还可使用Silicon Nails测试开发工具自定义对不合规边界扫描器件执行的测试向量。该工具将生成边界扫描测试,通过在相关互连引脚上输出或输入信号来实现测试一致性。
边界扫描是一种测试印刷电路板互连的方法。印刷电路板上合规的边界扫描器件可能连接有不合规的边界扫描器件,Keysight Silicon Nails 提供了所有需要的工具,可开发适合的测试,对这些不合规的边界扫描器件也执行测试。
在测试开发过程中,Silicon Nails测试开发工具会参考针对不合规边界扫描器件定义的数字测试。随后,它会生成一次边界扫描测试,驱动链路上的边界扫描器件对不合规的边界扫描器件执行测试向量。测试仪驱动不合规的边界扫描器件,并通过边界扫描链路对其进行测试。
用户还可使用Silicon Nails测试开发工具自定义对不合规边界扫描器件执行的测试向量。该工具将生成边界扫描测试,通过在相关互连引脚上输出或输入信号来实现测试一致性。