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探索是德科技完整的软件产品组合,涵盖从设计工程工具到仪器软件旨在扩展和增强您仪器。无论您是在配置测量、自动化测试、分析数据还是验证合规性,都可以使用下面的筛选器来确定支持您工作流程的合适软件——从设计和验证到制造和部署。
没有可用筛选器
KS8328APathWave 测试执行程序的商业版可在 TAP 上运行,可快速创建自动化测试计划,从而缩短开发时间,提升用户体验。
KS8328APathWave 测试执行程序的商业版可在 TAP 上运行,可快速创建自动化测试计划,从而缩短开发时间,提升用户体验。
PathWave 测试执行程序制造版本(PTEM)是一个插件,旨在为用户通过PathWave 测试自动化平台(TAP)开发自动化测试程序提供更佳的体验。在多种产品并存的制造环境中,测试平台的维护、强化和控制可能非常困难,而我们功能强大的PathWave 测试执行程序可帮助用户避免维护或开发测试平台的麻烦。在开发测试执行平台时,需要优先考虑的不是如何分配宝贵的资源,而是如何优化和提高测试覆盖率。
利益优先
PathWave 测试执行程序提供了“制造”、“部署”和“开发”三种许可证,您可以利用这些许可证有效地开发和部署测试计划,从而灵活地管理测试成本。
PathWave 测试执行程序提供了“制造”、“部署”和“开发”三种许可证,您可以利用这些许可证有效地开发和部署测试计划,从而灵活地管理测试成本。
该工具专为测试开发而设计,用于在将测试送入生产环境进行运行前进行测试开发。它提供了全面的测试开发功能,包括配置、数据准备、测试生成、测试用例生成和调试。
该工具专为测试开发而设计,用于在将测试送入生产环境进行运行前进行测试开发。它提供了全面的测试开发功能,包括配置、数据准备、测试生成、测试用例生成和调试。
Boundary Scan Analyzer 的运行时许可证提供了一套全面的测试解决方案,完全符合最新的 IEEE 1149.1-2013 标准。该许可证专为生产环境的运行时测试而设计。
Boundary Scan Analyzer 的运行时许可证提供了一套全面的测试解决方案,完全符合最新的 IEEE 1149.1-2013 标准。该许可证专为生产环境的运行时测试而设计。
M6802B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件中的嵌入式仪器 。
M6802B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件中的嵌入式仪器 。
M6803B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件中的嵌入式仪器 。
M6803B x1149 IEEE 1687 开发许可证,用于测试半导体器件中的嵌入式仪器 。
“结果分析器”是一款用于分析原始测试结果的工具,可精确定位导致测试失败的具体器件引脚位置。
“结果分析器”是一款用于分析原始测试结果的工具,可精确定位导致测试失败的具体器件引脚位置。
运行时和测试开发软件 2.0 版本升级计划是一项服务,可让用户为其是德科技 x1149 边界扫描分析仪获取最新的软件版本。
运行时和测试开发软件 2.0 版本升级计划是一项服务,可让用户为其是德科技 x1149 边界扫描分析仪获取最新的软件版本。
启用外部源文件的导入功能,用于编程 CPLD/FPGA 器件。
启用外部源文件的导入功能,用于编程 CPLD/FPGA 器件。
PM2288APathWave 制造分析软件结合工业 4.0 电子数据分析解决方案,全力推动制造业发展。
PM2288APathWave 制造分析软件结合工业 4.0 电子数据分析解决方案,全力推动制造业发展。
PathWave 该制造分析软件平台将测试与测量专业技术与数据科学及大数据工程融为一体,为未来智慧工厂中各层级的组织提供切实可行的洞察。通过真正有效的大数据先进分析,有助于提高良率,减少重新测试和处理任务,降低因质量问题产生的相关成本。凭借独特的创新分析,帮助您更快获得投资回报,取得丰硕的业务成果。
描述
诊断
前瞻性
规范性
TestExec SL 是一款高度灵活的测试执行软件,适用于多个行业的电子制造功能测试应用。
TestExec SL 是一款高度灵活的测试执行软件,适用于多个行业的电子制造功能测试应用。
是德科技 TestExec SL 是一款可定制、高度灵活的测试程序,专为多个行业的电子制造功能测试应用而开发。
这款现成的测试程序具备可完全自定义的操作界面、支持多种仪器集成的开放式架构、灵活的测试序列、简单易用的调试工具,以及适用于大多数制造测试环境的线路集成工具,为测试开发人员提供了极大的帮助。
TestExec SL 能够提高工作效率,尤其在测试自动化方面具有独特的优势,而且非常易于使用。借助最新发布的 TestExec SL 7.1,您现在可以利用多线程功能来提高执行吞吐量并缩短空闲时间。
TestExec SL 7.1
TestExec SL 的用户手册和帮助文件已包含在安装包中。
用户还可以使用 Silicon Nails 测试开发工具,自定义针对不符合规范的边界扫描器件执行的测试向量。测试开发工具将生成边界扫描测试,并在相关互连引脚上进行输出或输入,从而确保测试的一致性。
用户还可以使用 Silicon Nails 测试开发工具,自定义针对不符合规范的边界扫描器件执行的测试向量。测试开发工具将生成边界扫描测试,并在相关互连引脚上进行输出或输入,从而确保测试的一致性。
边界扫描是一种用于测试印刷电路板互连的方法。印刷电路板上的合规边界扫描器件可能会与不合规的边界扫描器件相连,Keysight Silicon Nails 提供了所有必要的工具,可用于开发合适的测试方案,并对这些不合规的边界扫描器件进行测试。
在测试开发过程中,Silicon Nails 测试开发工具会参考针对不符合规范的边界扫描器件所定义的数字测试。随后,它会生成一次边界扫描测试,驱动链路上的边界扫描器件对不符合规范的边界扫描器件执行测试向量。测试仪驱动不符合规范的边界扫描器件,并通过边界扫描链路对其进行测试。
用户还可以使用 Silicon Nails 测试开发工具,自定义针对不符合规范的边界扫描器件执行的测试向量。测试开发工具将生成边界扫描测试,并在相关互连引脚上进行输出或输入,从而确保测试的一致性。