如何使用本振/时钟替代器测试射频转换性能

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采用低相位噪声信号发生器实现锁相/时钟精度

在最终确定振荡器和时钟电路设计前，验证射频转换性能需要精确且频率稳定的信号源。高纯度信号发生器可替代系统的本地振荡器（LO）和时钟，为早期测试提供所需的精度和可重复性。 在测试设置中，一台信号发生器为混频器提供LO输入，另一台则为模数转换器（ADC）和现场可编程门阵列（FPGA）提供采样时钟（参见应用说明图4）。通过将ADC和FPGA的内部基准振荡器进行频率锁定，可确保信号链全链路保持同步且时序关系一致。

该设置使工程师能够在受控条件下精确测试系统行为，且独立于原型振荡器硬件。精密信号发生器产生的低相位噪声和极少杂散信号，有助于在源信号杂质影响较小的情况下表征接收机性能。此类测试涵盖系统开发阶段的灵敏度、线性度及噪声底限评估，远早于生产时钟和本振电路投入使用之前。

LO / 时钟替代方案

在射频产品开发的关键阶段，采用稳定、高纯度的信号源替代本振（LO）和时钟元件，是射频转换性能测试基础 获得最佳测试结果基础 。是德科技的紧凑型模拟信号发生器是一款便携式高性能仪器，覆盖频率范围从9kHz至26GHz。

该解决方案提供卓越的信号纯度，在1 GHz（20 kHz偏移）时具有-130 dBc/Hz的低相位噪声，杂散信号极少，谐波压低至-40 dBc（1 GHz）。它还支持频率锁定功能，可无缝集成于多源系统中。此外，该方案以高性价比为设计目标，使工程师在产品开发阶段无需占用更昂贵的信号发生器资源。    

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