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专题 

是德科技升级边界扫描分析仪，支持最新的IEEE标准

新版本提升了印刷电路板的测试覆盖率

March 15, 2023

是德科技对x1149边界扫描分析仪进行了升级，新增了对最新IEEE 1149.1-2013和IEEE 1149.6-2015标准的支持，使进阶 边界扫描测试能够超越常规的结构测试，并显著提高印刷电路板（PCB）的测试覆盖率。 此次发布的新版本——x1149边界扫描分析仪测试仪 2.0——提供了最新的边界扫描架构，以及用于片上调试和分析的工具，可识别并解决包含多个知识产权和芯片的复杂集成电路（IC）中的缺陷。 

是德科技 x1149 边界扫描分析仪

x1149边界扫描分析仪采用IEEE 1149.1-2013标准，通过电子芯片识别（ECID）功能，能够追踪每颗集成电路（IC）的序列号，从而实现元器件可追溯性并防范假冒产品。 此外，x1146 允许设计人员通过内置自测试（BIST）功能，在实际工作条件下测试关键任务型集成电路的性能、可靠性和功能，从而确保其集成电路能够以最佳状态运行。 

“符合新版IEEE 1149.1-2013标准的集成电路已开始出货，”是德科技电子工业解决方案集团的产品管理经理Adrian Cheong表示。 “借助x1149，制造商现在可以对采用这些集成电路组装的PCB进行测试。通过使用边界扫描测试方法，可以去除连接到这些集成电路的测试点，从而在当今尺寸更小的PCB上节省空间，同时保持测试覆盖率，进而确保最终产品的质量。”

使用支持 IEEE 1149.1-2013 标准的新版 x1149 时，设计工程师可借助以下测试功能，将测试覆盖率提高约 75%：

  • 寄存器助记符
  • IC复位控制
  • 组件初始化机制
  • 分段边界扫描寄存器
  • 电源域支持
  • 测试模式的持久化
  • 电子芯片识别（ECID）
  • 过程描述语言（PDL）

是德科技 x1149 边界扫描分析仪测试仪 2.0 现已面向全球发售。如需了解更多信息，请访问www.keysight.com/find/x1149。