三星代工厂采用是德科技噪声分析仪
测量数据提高了PathWave 在进阶 半导体工艺节点中进行PDK开发时的器件建模与仿真精度
SANTA ROSA, Calif., October 18, 2022
是德科技公司（Keysight Technologies, Inc.，纽约证券交易所代码：KEYS）是一家领先的技术公司，致力于提供基于进阶 的设计和验证解决方案，以加速创新，连接并保障世界安全。该公司宣布，三星代工（Samsung Foundry）已采用是德科技的E4727B进阶 低频噪声分析仪（A-LFNA），用于测量和分析半导体器件中的闪烁噪声（1/f噪声）和随机电报噪声（RTN）。 瞄准三星代工最进阶 技术的客户，将能够使用包含基于A-LFNA数据、最精确仿真模型的工艺设计套件（PDK），用于射频（RF）和模拟电路的设计与验证。
“在PDK的开发中，准确的低频噪声测量与建模变得越来越重要，特别是在5、4和3纳米的进阶 工艺节点上，”是德科技（Keysight）PathWave 软件解决方案产品管理总监查尔斯·普洛特（Charles Plott）表示。“三星代工（Samsung Foundry）采用我们的A-LFNA解决方案，使设计工程师能够获得最高质量的PDK用于电路设计，从而实现首次设计成功并缩短产品上市时间。”
是德科技 E4727B A-LFNA 是一款用于测量半导体器件低频噪声的交钥匙解决方案。PathWave A-LFNA 测量与编程软件基于PathWave WaferPro （WaferPro Express）测量平台构建。工程师可在这一既灵活又可扩展的测量系统中，管理和自动化整个晶圆级器件表征工作流程。 接下来，工程师将测量数据从系统导入是德科技的PathWave 器件建模（IC-CAP）和PathWave 模型构建器（MBP ）软件中，以提取用于PDK开发的器件模型，从而确保高精度的射频和模拟低噪声电路设计与仿真。
三星代工（Samsung Foundry）是领先的半导体代工企业，提供经过优化的代工解决方案，包括最先进的工艺技术、经过验证的IP以及设计服务解决方案。
“经过仔细的技术评估，我们选择了是德科技的 E4727B A-LFNA，以提升器件测量的质量、效率和可扩展性，”三星代工技术副总裁李亨镇表示。“是德科技的 A-LFNA 具有 100MHz 的宽频带，能够实现更高频率下的噪声测量。 与上一代系统相比，A-LFNA的测量速度更是快得惊人。如果没有它对晶圆上器件的快速自动化测量，表征过程将是一项极其耗时的任务。A-LFNA高精度、高速的测量能力确保了我们的PDK能更早推向市场，从而加速客户的设计周期。”
如需了解是德科技产品及完整解决方案的更多信息，请访问：E4727B A-LFNA、PathWave 、WaferPro （WaferPro Express）、PathWave A-LFNA 测量与编程、PathWave 器件建模（IC-CAP）以及PathWave 模型构建器（MBP ）。
关于是德科技
是德科技提供进阶 设计与验证解决方案，助力加速创新，连接并保障世界安全。是德科技对速度与精度的追求延伸至软件驱动的洞察与分析，这些技术可在整个开发生命周期中——包括设计仿真、原型验证、自动化软件测试、制造分析，以及企业、服务提供商和云环境中的网络性能优化与可视化——帮助未来的技术产品更快地推向市场。 我们的客户遍布全球通信和工业生态系统、航空航天与国防、汽车、能源、半导体及通用电子市场。是德科技在2021财年实现了49亿美元的营收。有关是德科技（纽约证券交易所代码：KEYS）的更多信息，请访问www.keysight.com。
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