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勤学以广博工程师的智慧知识宝库
通过这个专注的训练营,掌握设备表征专业技能。借助视频课程、应用指南和是德科技值得信赖的手册,您将学会运用行业标准方法和工具提取关键参数——从电容和栅极电荷到超低电阻。
了解:
本训练营专为设备表征工程师、功率半导体研究人员及寻求实践参数测试技能的教育工作者量身打造。
第 1 课——半导体器件中的电容
本文探讨了不同类型的电容测量方法(准静态CV和高频CV),并说明了这些方法能够揭示哪些器件参数。此外,还讨论了电容测量中的实际问题。
第 2 课 - 电容测量方法
定义了电容测量方法及各种类型的电容表。最合适的电容测量方法取决于具体应用场景。
应用文章
碳化硅MOSFET的超低导通电阻测量
本应用说明概述了使用 B1505A 功率器件分析仪/曲线追踪仪测量超低导通电阻 (Rds-on) 的技巧。
第 3 课 - 准静态电容测量
解释了准静态电容测量以及准静态测量为何重要。需要理解的是,这是一种器件响应,其准确度取决于测量过程的特性。
第 4 课 - 高频电容测量
针对高频电容测量进行了详细阐述。
静态与动态栅极电荷测量
本应用说明旨在帮助您了解栅极电荷测量,从而优化电源电路的设计性能。
参数测量
关于什么是参数测试,这是一个有趣的问题,可能存在一定争议。一般而言,参数测试涉及对四种主要类型的半导体器件进行电气测试和特性分析:电阻器、二极管、晶体管和电容器。本应用笔记旨在帮助工程师和研究人员对低功耗和高功耗器件进行精确的参数测量,不仅适用于当下,也适用于未来许多年。
第 5 课——构建完整的 CV-IV 测量解决方案所需的组件
提供了构建完整的CV-IV测量方案所需的组件。理想情况下,目标是能够在一台仪器或一套设备上完成完整的CV和IV测量。
通过数字学习套件赋能半导体教学
本应用说明阐述了测量MOSFET的过程,以及如何使用可变源模拟器(SMU)进行电流-电压(IV)测量。
如何准确测试和表征碳化硅器件的栅电荷(Qg)
本应用说明概述了如何正确、高效地使用动态/静态参数分析仪来测量Qg。
《参数测量手册》——第5版
本应用说明是从事参数测试相关工作的工程师不可或缺的参考工具。
第6课 - 总结与扩展资源
概述了基础 测量在器件参数表征中的作用,并提供了更多相关信息的补充资源。
硬件
B1500A 半导体器件参数分析仪/半导体表征系统主机
Keysight B1500A 半导体器件参数分析仪是一款集IV、CV和快速脉冲IV等丰富测量功能于一体的综合型器件表征解决方案,其测量可靠性极高。
如何对低功耗集成电路进行特性分析
使用集成脉冲发生器/数字化仪和IV曲线测量软件的SMU来表征低功耗集成电路
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