网络研讨会
随着半导体器件日益复杂，工程团队在保持测量精度、产品质量和可靠性的同时，还面临着缩短开发周期的日益增大的压力。
欢迎参加是德科技（Keysight Technologies）举办的本次技术研讨会线上研讨会 ，共同探讨集成工作流如何助力加速半导体创新，涵盖从集成电路（IC）设计到晶圆级表征及最终功能测试的全过程。通过实际演示，您将了解工程师如何改善仿真与实际芯片之间的相关性、streamline 验证、实现测量自动化，并在整个开发生命周期中获得更大的信心。
无论您是在设计射频电路、对晶圆上的器件进行特性分析，还是对进阶 光子集成电路进行验证，都能发现有助于加快新一代半导体产品上市进程的实用方法。
本《线上研讨会 》专为半导体设计、验证和测试工程师，以及射频、微波、光子学和光学测试工程师而设计。对于研发工程师、工程经理以及任何参与半导体开发、器件表征或生产测试的人员而言，本书同样具有重要价值。