展会
为分析而设计。自信地进行验证。
欢迎莅临德克萨斯州圣安东尼奥市举办的2026年国际测试与失效分析研讨会（ISTFA），与是德科技共聚一堂。届时，工程师和失效分析专家将齐聚一堂，共同探讨微电子测试、调试和可靠性领域的最新进展。
围绕今年的主题“面向分析的设计”，ISTFA汇聚了工程师和行业专家，共同分享针对当今半导体设计与可靠性挑战的实用见解和新兴方法。
探索用于故障排查、设计验证和优化测试工作流的实用技巧。
会议亮点
欢迎莅临第721号展位参观是德科技
通过现场演示，探索有助于加快调试速度、简化故障分析并自信地验证设计的解决方案，演示内容包括：
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微电子工程师、半导体设计人员、失效分析专家、可靠性工程师、测试工程师、研究人员，以及所有负责器件表征、调试、验证或产品质量的人员。