PCI Express（PCIe）
通往 PCIe 7.0 成功的道路
借助
确保PCIe设计成功并保障测量结果的准确性
这是从仿真到协议测试最全面的PCI Express®解决方案，可真实反映设计性能。
PCIe设计与仿真
随着数据速率的提升，高速串行数据链路的设计复杂度显著增加——通道拓扑结构日益多样化，需要调谐的有源器件参数数量也呈倍增趋势。 您需要借助仿真技术优化PCIe设计的信号完整性与电源完整性，并分析高速集成电路封装、印刷电路板互连等元件的电磁效应。我们能助您快速高效地评估PCIe 6.0链路的端到端性能。
PCIe 发射器测试
在 128 GT/s 速率下进行的 PCIe 7.0 发射机测试已达到测量能力的极限，此时单位间隔减半、噪声裕度不变以及通道损耗达到极值，使得 SNDR、抖动和线性度的验证比 PCIe 6.0 时期要困难得多。
是德科技FlexPLL提供业界最快的发射机锁相环（PLL）带宽测量，将测量时间从数小时缩短至数秒。
由是德科技专家开发的尖端发射机测试自动化工具，可确保您的 PCIe 测量结果的准确性，减少测试次数，避免耗资巨大的重新设计，并缩短产品上市时间。
PCIe接收器测试
随着PAM4格式的采用以及PCIe 7.0数据传输速率高达128 GT/s，从PCIe信号中提取数字内容变得困难得多。
在采用 PAM4 信号的这种高数据传输速率下，由于通道的高频损耗特性，PCIe 接收器通常会面临信号严重退化的问题，从而导致无法接受的比特误码率（BER）。比特误码通过前向纠错（FEC）进行处理；这需要引入新的测量指标，例如信噪失真比（SNDR）。
我们将向您展示您设计的真实性能，以确保您的 PCIe 方案取得成功。
PCIe互连测试
通道是PCIe系统中的关键要素之一。通道中存在多种失真源，会导致从PCIe发射器到PCIe接收器的信号质量下降——串扰、抖动和符号间干扰（ISI）便是其中几例。 必须测量通道的损耗特性，确保其在特定数据速率下符合PCIe规范限定的范围。散射参数（S参数）用于表征高频电路特性，例如PCIe系统中的通道特性。
是德科技是PCI-SIG主要工作组的重要贡献者，自其成立之初便持续参与。凭借无可比拟的专业知识和世界领先的支持，是德科技助您轻松应对这些复杂要求。
PCIe协议测试
协议验证在物理层、数据链路层和事务层进行。除强制性协议合规性测试外，PCI-SIG还建议进行上百项附加测试以准确表征设计特性。协议测试的关键领域是链路训练与状态状态机（LTSSM）。
您需要确定数据包能否在链路伙伴之间可靠传输。您需要协议分析和测试工具来验证PCIe设备能否与链路伙伴成功通信。我们可协助您执行复杂的PCIe 5.0和6.0协议测试，并快速调试检测到的任何错误，确保您的PCIe设备符合规范。
全新
P5570A与P5573A PCIe 6.0协议分析仪及测试仪卡采用集成化设计，提供稳固可靠的测试平台，让您无需担忧线缆质量问题即可即刻启动测试。
资源
PCI-SIG®、PCIe® 和 PCIExpress® 是 PCI-SIG 在美国的注册商标和/或服务标记。
Keysight 是唯一一家在 PCI-SIG 董事会任职的测试测量公司，并在过去 20 年中成功为 PCIe 标准做出了贡献。在此了解更多。
需要帮助或有疑问吗？