DDR技术测试解决方案
高速技术如双倍数据速率(DDR)和低功耗双倍数据速率(LPDDR)带来了重大的设计与测试挑战。DDR作为一种内存芯片技术,在过去十年间经历了多代迭代。每代DDR都在速度、效率和存储容量方面实现提升。但随着标准允许以更快的速率传输更多数据,容差空间随之缩小。因此,设计工作和测试变得更加困难。 比特误码率测试仪(BERT)、示波器、探针及配套合规性软件在物理层测试中能缓解部分难题。 若需深入分析OSI模型各层,逻辑分析仪可协助验证设计的功能与协议合规性。根据所处设计阶段(器件表征、仿真、原型、固件、软件),基础 当前及下一代基础 三类基础 测试:• DDR5接收器合规性与特性分析• 物理层及合规性测试• 功能调试、分析与协议合规性基础