WaferPro Express Main WindowWaferPro Express 是一个新的测量软件平台，可提供统一、开放和自动化的晶圆上测量环境。WaferPro Express 是能够真正满足客户表征需求的解决方案。它支持（内置和用户定义的）高效测量程序库，如自适应测量算法等，可以显著减少总体测量时间。

关于 WaferPro Express 的更多信息，请下载 WaferPro Express 手册。

WaferPro Express 的主要特性

加快开始首次测量：

  • 适用于 CMOS、BJT 和其他主要技术的完整 DC、CV 和 RF 测试算法
  • 50 多个完整的仪器驱动程序，适用于大多数常见仪器、接口和操作系统
  • 晶圆级测量解决方案的系统设置和验证程序简单易用

简化设置自动化测试的日常任务：

  • 现代化的直观用户界面，方便定义晶圆图和测试计划
  • 独家整合到 Cascade Microtech 探头控制软件中

提高生产效率：

  • 先进的数据显示和晶圆数据映射查看器
  • 用于处理大量数据的 SQL 数据库

使用户能够解决复杂或常见的问题：

  • 用于数据监测和后期处理以及仪器驱动程序实现的 Python/PEL 编程
  • 可配置的开关矩阵驱动程序，支持各种探头卡和连接

晶圆级测量解决方案

WaferPro Express 是是德科技与 Cascade Microtech 合作开发的晶圆级测量解决方案（WMS）的关键组成部分。

所有 WMS 均由是德科技和 Cascade Microtech 进行验证，以便让用户尽快开始首次测量，并为用户提供精确、可重复的器件和元器件表征。

所有 WMS 均提供有保证的系统配置、安装和支持。

关于 WMS 的更多信息，请参阅晶圆级测量解决方案——Cascade Microtech。

Wafer-level Measurement Solutions (WMS)

图 1. 典型的 WMS 直流和射频器件建模解决方案，提供有保证的配置、安装和支持。测试工程师可获得快速、准确、经过验证的晶圆级半导体测量解决方案，确保测量性能以及多个位置测量结果之间的相关性，并最大限度地加快开始首次测量。

在器件建模流程中，WaferPro Express 适合部署在哪里并与其他产品结合使用？

 

WaferPro Express in the Device Modeling flow

图 2. 器件建模流程中的 WaferPro Express。

IC-CAP WaferPro 和 WaferPro Express 有什么区别？

  • IC-CAP WaferPro 适用于使用单一平台进行测量和建模或需要访问新测量管理系统（MMS）的用户，而新 MMS 为 IC-CAP WaferPro 所独有。IC-CAP WaferPro 提供极大的灵活性，可驱动是德科技参数测试仪，并包含可与建模共享使用的 IC-CAP 环境
  • WaferPro Express 适用于需要简单易用、经济高效的自动化晶圆上测量解决方案的用户

进一步了解：

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