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- 快速、高效、易于使用的自动提取例程，充分发挥 IC-CAP 最新增强和全新特性
1/f 噪声或 Flicker 噪声是重要的低频噪声源。 深亚微米 CMOS、BJT、FET 和 HBT 器件以及射频无源器件的 1/f 噪声精确测量和建模，是射频电路设计的关键。
1/f 噪声作为振荡器设计中的相位噪声，在与振荡频率混合时会导致振荡器出现不稳定。 具有噪声的本地振荡器信号会降低接收机的有用动态范围和选择性，使其难以从噪声中恢复信号。
IC-CAP 的 1/f 噪声套件可提供灵活的开放式提取程序。 模型文件包括可以自动执行测量和提取流程的设置和向导，从而构建一键式解决方案。 例如，通信用户界面层包括知道您逐步完成整个测量、提取和仿真过程的对话。
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