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特点

  • 最大节点数：2592
  • 最大通道数：576
  • 占用面积：0.95 米 x 0.94 米 / 3.13 英尺 x 3.08 英尺
  • 最大模块数：2

您的生产线需要高吞吐量。 要想实现高吞吐量，您必须高效地执行测试，保持测试系统的稳定度以及无缝实施设备集成。 Keysight i3070 系列 6 产品组合恰好可以满足您的需求。 系列 6 ICT 系统以成熟的技术为基础精心设计，与以前的产品相比测试效率更高。 系列 6 拥有经过时间验证的软件、硬件和编程功能，能够完全向后兼容以前的系统，并可执行高度可重复的测量。

  • 边界扫描速度是以前的 4 倍，还提供了硅钉测试和动态闪存编程功能，显著提高测试效率。
  • 100% 向后兼容性保证尽量缩短安装所需要的停机时间，并实现完整的代码兼容性。
  • IPC-CFX 和 Hermes 等经过认证的 M2M 功能可提高操作效率，深化测试数据洞察，缩短响应时间以及减少运营支出。
  • Keysight On-site Now! 眼镜提供直观的技术支持。 您可以快速获得专家帮助，安全可靠，解放自己的双手。
  • 现代化的软件许可方案让您可以清晰了解许可证成本，集中管理许可证，还可根据生产需求进行扩展。

主要技术指标

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Fixture Actuation
Vacuum
最大节点数
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Offline System
System Width
954 mm
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最大节点数
Max Parallel Testing
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Vacuum
2592
2
Offline System
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Fixture Actuation:
Vacuum
最大节点数:
2592
Max Parallel Testing:
2
System Type:
Offline System
System Width:
954 mm
E9905G 2 模块在线测试（ICT）系统

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扩展 2 模块在线测试（ICT）系统 i327x 系列 6 的功能

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关于 E9905G 2 模块在线测试（ICT）系统 i327x 系列 6 的特色资源

Application Notes 2024.01.31

Streamlining In-System Programming

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This application note explores the challenges and solutions in implementing In-System Programming (ISP) on densely populated circuit boards. Focusing on Keysight's advanced ICT system, the document discusses upgraded hardware configurations and introduces the ISP OpenTAP plug-in for streamlined test sequence generation. With a simplified approach to test generation and execution, Keysight's solution offers an efficient pathway for ISP integration. This resource serves as a practical guide for test engineers seeking to optimize ISP processes, enhance efficiency, and reduce complexities in programming.

2024.01.31

Application Notes 2024.01.31

Integrating x1149 Boundary Scan Analyzer for Enhanced Modularity and Versatility

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This application note explores the integration of Keysight's x1149 Boundary Scan Analyzer with the i3070 Series 7i In-Circuit Test System, introducing a flexible and efficient approach to boundary scan testing. The integration eliminates challenges associated with built-in boundary scan systems, offering enhanced security, modularity, and greater flexibility in adapting to evolving protocols and functionalities.

2024.01.31

Application Notes 2024.01.30

New i3070 Series 6 is 1.5x Faster than the Series 5

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This application note summarizes some of the results of Vectorless Test Enhanced Probe (VTEP) early tests conducted at customer sites.

2024.01.30

应用指南 2014.08.11

保护集成电路免受过高功率的损害 - 应用指南

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此应用指南描述了 Medalist i3070 Serie 5 在线测试仪上的电源监控电路如何提供实时监控，以防止损坏电路板上的 IC。

2014.08.11

应用指南 2014.08.01

在 Keysight Medalist i3070 图形用户界面上用两种语言显示菜单 应用指南

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With its Medalist i3070 In-Circuit Test (ICT) software version 07.00 and above, Keysight has a menu-based Graphical User Interface (GUI) allowing users to point and click on commands in a menu to control the ICT system during operation.

2014.08.01

应用指南 2014.08.01

利用 Keysight Medalist i3070 在线测试 AutoDebug 工具 , 缩短调试时间 应用指南

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本应用指南概括介绍了 Keysight Medalist i3070 ICT软件 07.00 版及以上版本中引入的自动调试工具，从而缩短调试ICT软件程序所需的时间。

2014.08.01

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