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HIGHLIGHTS
- 在每个谐波上，将幅度和相位数据当作功率、偏置和负载的非线性函数进行测量
- 将 X 参数级联扩展到任意大的负载失配
- 使用是德科技的先进设计系统（ADS），通过简单的拖放操作建立器件模型，并设计多级、Doherty 或其他复杂的放大器电路
- 在任意负载条件下（甚至在极大的压缩条件下），测量和预测输入端口和输出端口的动态负载线
是德科技首创：在满负载条件下通过 X 参数捕获完整的非线性元器件特性*。
该选件使您能够：
- 使用真实的非线性数据进行设计，将设计周期缩短 50%
- 在每个谐波上，将幅度和相位数据当作功率、偏置和负载的非线性函数进行测量
- 将 X 参数级联扩展到任意大的负载失配
- 使用是德科技的先进设计系统（ADS），通过简单的拖放操作建立器件模型，并设计多级、Doherty 或其他复杂的放大器电路
- 在任意负载条件下（甚至在极大的压缩条件下），测量和预测输入端口和输出端口的动态负载线
X 参数测量是一个功能强大、操作简单并可自动完成的过程，它可通过测量任意复杂阻抗、输入功率、输入频率、直流偏置等参数，来捕获非线性元器件特性。通过在 NVNA 上安装 Maury 负载牵引软件和添加外部 Maury 调谐器，可以在大信号条件下捕获器件复杂的非线性特性（Gamma dependence）。X 参数首次在根本上将散射参数、标量和矢量负载牵引数据和器件生成的谐波统一为一体。全负载相关还可将 X 参数立即应用于晶体管表征、建模和电路设计。
如欲了解 Maury 调谐器和负载牵引软件的更多信息，请访问 maurymicrowave 网站。
* “X 参数”是是德科技的注册商标。X 参数格式和基础方程是公开的并已存档。了解关于 X 参数的更多信息。
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