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使用适用于 WGFMU 的一站式测量驱动程序和测量例程，可以自动执行晶圆级低频噪声测量。

特点

W7801B PathWave WaferPro WGFMU 测量软件包括：

  • 与 WaferPro Express 测量平台无缝集成
  • 先进的数据显示和分析功能，支持噪声数据比较和偏置电流建模
  • 可自动控制所有主流的晶圆探测系统
  • 多种内置偏置方案，适用于闪变噪声的表征
  • 测量数据与是德科技器件建模软件兼容
  • 用于 RTN 的 Ton 和 Toff 分析

W7801B PathWave WaferPro Express WGFMU 测量软件套件可以与 B1500A 半导体器件分析仪和 B1530A Waveform 波形发生器/快速测量单元（WGFMU）结合使用，对晶圆进行低成本、自动化的随机电报噪声（RTN）测量。 它能够提升 RTN 测量和数据分析的效率，包括控制晶圆探针台。

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