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HIGHLIGHTS
W8580BP WaferPro Express 核心测量捆绑套件包括：
- 现代化的直观用户界面可以设置自动晶圆测量
- 超过 50 种完整的测量驱动程序
- 先进的数据显示、晶圆数据映射查看器和 SQL 数据库
- 支持 Cascade Microtech 晶圆探头
W8580BP Waferpro Express 核心测量捆绑套件包括执行自动 DC、CV 和射频晶圆上测量的所有必要功能。下表列出了该捆绑套件的重要特性。该捆绑套件包括用户界面环境，其中有晶圆图环境、数据显示和 SQL 数据库。还包括所有仪器驱动程序及其功能，以及 Cascade Microtech 探头的驱动程序。关于所支持的仪器、晶圆探头、热卡盘和开关矩阵的详细信息，请查看 WaferPro Express 手册。
测得的数据保存为 ASCII 格式或保存到 SQL 数据库。这两种格式都完全兼容是德科技器件建模产品—集成电路表征和分析程序（IC-CAP）、建模程序（MBP）和模型质量分析（MQA）。
完整的测量例程覆盖对大多数标准器件（例如 MOSFET、BJT、FET 和 DIODE 器件）的典型 DC、CV 和射频测试。用户可以通过用户界面（UI）生成新测试例程并保存到程序库中，不过此捆绑套件不允许通过编程环境定制例程。例程中包含用最先进的 W8581BP WaferPro Express 核心测量和编程捆绑套件开发的程序时，可以在该环境中流畅运行；因此如果您拥有多个测试台，那么可以在大多数测试台中使用 W8580BP WaferPro Express 核心测量捆绑套件，并添加一份或两份高级捆绑套件来创建和测试您的测量程序库。如果您只有一个测试台，那么我们建议购买 W8581BP WaferPro Express 核心测量和编程捆绑套件，它提供更灵活和更高程度的定制。
该捆绑套件完全支持直流测量测试系统，例如包括 B1500A 半导体器件参数分析仪（表征系统）主机/EasyEXPERT 和 B2200A fA 泄露开关主机的系统；不过，取决于开关矩阵连接的特定配置，可能需要 W8581BP WaferPro Express 核心和编程捆绑套件来定制开关矩阵驱动程序。关于这个问题，请与是德科技应用专家讨论。WaferPro Express 不支持 Keysight 4070/4080 参数测试系统，如果您需要控制这些系统，请参见 W8510EP IC-CAP Wafer Professional。
通过购买 W8585EP 附件产品，可以支持非 Cascade Microtech 探头。
| W8580BP WaferPro Express 核心测量捆绑套件 | |
|---|---|
| 功能特性 | W8580BP |
| UI 环境，包括晶圆映射和测试计划设置工具 | 包括 |
| DC / CV / RF / TD 完整测量和测试计划执行 | 包括 |
| 完整的 GBIB 仪器连通性和驱动程序* | 包括 |
| 数据显示和晶圆图分布 | 包括 |
| 通过 UI 进行的测试配置和设置 | 包括 |
| Cascade Microtech 支持* | 包括 |
| SQL 数据库 | 包括 |
| Python 和 PEL 编程环境 | 只执行 |
| 虚拟测试计划仿真（仅限于 Spice3） | 不包括 |
| W8585EP WaferPro Express 扩展探头支持* | 可选 |
注：本页显示的产品型号表明它们使用了节点锁定永久许可证（BP/EP 后缀）。同时提供预定或限时（BT/ET 后缀）许可证以及浮动许可证配置。
了解 WaferPro Express 的更多信息。