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XP6级偏振分析仪，带偏光仪

N7788C 结合偏振计和偏振控制器，可在实验室中灵活使用；此外，它还可与是德科技可调谐激光源配合使用，通过单次扫描算法对光器件和光纤进行快速光谱 DGD/PMD 和 PDL 测量。

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  • 输入功率范围

    -50 dBm 至 +7 dBm

  • 波长范围

    1240 nm 至 1650 nm

  • 功能性

    旋光仪

  • 插入损耗

    5.0 dB

  • 极化不确定性状态

    1.5°

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关键性能

  • 只需单次扫描即可获得最高准确度。无需进行多次扫描并计算平均值。
  • 对元器件的光路径长度没有限制
  • 1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围
  • 1 MHz 最大采样率
  • 0 ps 至 1000 ps DGD 量程
  • 0 ps 至 300 ps PMD 量程
  • 1.5° SOP 测量不确定度
  • ±2% DOP 测量不确定度

N7788C 光器件分析仪在一台仪器中同时提供了偏振控制和分析功能，因此能够在实验室中灵活使用。 特别是，N7788C 可与可调谐激光源配合使用，测量光器件如何改变信号的 SOP。该测量基于广义标准琼斯矩阵特征分析法（JME），采用独特的单次扫描偏振相关法来确定参数偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）和偏振相关损耗（PDL）。

N7788C 结合可调谐激光源和全新的 N7700 软件引擎，能够对这些偏振相关损耗和色散进行光谱测量。作为光通信应用软件套件的组成部分， ，LS 引擎现已支持这些与波长相关的 DGD 和 PMD 测量。该模式可通过 N7700103C PMD 获得许可。

此项测量提供的参数包括：

  • DGD/PMD
  • PDL
  • 功率/损耗
  • TE/TM 损耗
  • 琼斯矩阵
  • 米勒矩阵
  • 2阶PMD（去偏振+PCD）

N7788C 的内置用户界面支持通用偏振计和偏振控制功能。

仪器外形紧凑，仅有一个机架单元高，并且配有 LAN 和 USB 接口。

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