- 概述
- 所有型号
- 支持
全面工具，用于管理极化与色散挑战
是德科技XP6系列光学偏振与色散仪器 全面的控制与分析能力。它们具备高速实时偏振合成、分析、扰码功能，并能测量偏振相关损耗与色散——这些关键指标对于光学元件及子系统的高性能表征与验证至关重要。该仪器 干涉测量、偏振对准、元件表征及传输系统测试。 根据所需功能及输入功率范围选择光学偏振与色散仪器。您可选用热门预设配置，或根据应用需求定制专属方案。
偏振控制
实现对极化状态的完全控制，用于对光纤、调制器和光子元件进行精密测试。
快速切换
通过高达1 MSa/s的采样速率和高达100 krad/s的偏振状态（SOP）切换速度，捕捉快速变化的偏振效应，实现动态分析。
同步扰码
基于环路网络压力测试的电同步SOP变更，兼具时间精度与行为复现能力。
紧凑且集成
每台仪器集多种功能于一体（扰频器/稳定器、偏振仪/控制器），以更少的仪器提供更多功能。
-
功能性
偏振合成器，偏振分析仪，同步扰码器，偏振计
-
输入功率范围
-38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm
-
波长范围
1240 nm 至 1650 nm
-
插入损耗
4.0 分贝 至 5.0 分贝
-
极化不确定性状态
1.5° 至 2
最受欢迎的配置
XP6级偏振分析仪
XP6级偏振分析仪，带偏光仪
XP6级偏振分析仪，带偏振合成器
服务 支持
通过精心策划的支持方案、优先响应机制和快速周转时间，实现高效创新。
获取可预测的租赁式订阅服务和全生命周期管理解决方案——助您更快达成业务目标。
KeysightCare ，享受卓越服务，获得专属技术响应等更多权益。
确保您的测试系统符合规格要求，并满足本地及全球标准。
通过内部讲师指导的培训和在线学习，快速掌握测量技能。
下载是德科技软件或将您的软件更新至最新版本。
常见问题
光学偏振与色散测试用于测量光波在光纤及器件中传输时的行为特性。这些参数——偏振态（SOP）、偏振相关损耗（PDL）和偏振模色散（PMD）——会显著影响高速光网络中的信号完整性。 是德科技解决方案提供实时偏振合成、偏振扰动及色散测量功能，确保在相干传输和DWDM网络等新一代通信系统中实现高性能传输。
是德科技提供多种类型的光学偏振与色散仪器每种仪器均针对光学部件和系统特性分析中的特定功能而设计：
旋光仪
该仪器可执行全面的偏振相关损耗（PDL）与偏振模色散（PMD）测量。基础 器件表征与系统验证基础 ，它能协助工程师验证偏振劣化对相干传输系统、密集波分复用（DWDM）网络及人工智能数据中心互连的影响。
极化合成器
偏振合成器可对偏振状态（SOP）进行精确、高速的控制。它用于测试调制器、光纤链路和光子元件等设备在特定偏振条件下的工作表现。该设备支持可重复的偏振状态生成，适用于对准、校准及裕度测试。
偏振分析仪
偏振分析仪可实时测量并监测正交偏振（SOP），实现动态偏振行为分析。凭借高速采样能力，该设备在科研与制造环境中均能理想地完成SOP追踪、器件性能评估及故障排查任务。
同步扰频器与极化稳定器
该仪器支持环路同步扰码和快速SOP切换（最高达100千拉德/秒），这对网络仿真和闭环应力测试至关重要。其稳定器功能可确保SOP恒定，适用于长期漂移测试或受控实验。
每种类型在构建完整的光学测试解决方案中都发挥着独特的作用，具体取决于您对特性分析、对准、验证或仿真等方面的需求。
偏振与仪器 整个光学元件及系统开发流程。
- 在研发实验室中，它们有助于模拟现实世界中的极化损伤。
- 在元件特性分析过程中，他们测量PDL、PMD和SOP的变化。
- 在系统验证过程中，他们模拟动态极化效应以进行压力测试。
光学偏振与色散控制器是调制器、光纤链路、光子集成电路和相干接收器等基础 。
选择取决于您的具体测试目标：
- 在组件测试中，应优先选用具备高精度PDL/PMD测量功能的工具。
- 对于网络仿真或相干系统测试，应选用具有环路同步操作功能的高速扰码器。
- 在科研领域，应选择仪器 实时SOP追踪、打乱和控制的多功能仪器 。