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是德科技光衰减器可精确控制光信号功率,实现准确且可重复的光器件测试。衰减器在测试过程中模拟信号损耗、平衡功率水平并保护敏感设备。是德衰减器具备低插入损耗、低偏振相关损耗(PDL)及高分辨率特性,覆盖宽广衰减范围。这些特性确保在单模和多模应用中均能实现精准稳定的信号控制。 根据最大衰减量和通道数量,选择所需的光衰减器以模拟真实光链路条件、校准功率水平或实现光测试系统的自动化信号调节。您可选用热门配置方案,也可定制专属应用方案。
提供高达60 dB的宽范围精细控制,可精确模拟不同光功率水平和测试场景下的信号衰减。
快速衰减调节可提升测试吞吐量和响应能力,适用于信号电平变化迅速的自动化应用场景。
在数千个循环中提供高度可重复的衰减设置,支持稳定的自动化测试设置,并适用于制造环境中的长期使用。
最大限度地减少偏振相关损耗,确保在不同信号偏振条件下保持一致且精确的衰减特性,特别适用于敏感光学部件的精密测试。
最大衰减
35 分贝 至 60 分贝
通道数
1 至 4
插入损耗
< 1.7 dB 至 <2.2 dB
功率范围
+20 dB 至 -50 dB,+20 dB 至 -35 dB
光纤模式
单模,多模
功率设置与控制模式
在功率设置模式下,您可以设置衰减器的输出功率电平。所有 N77-C 可变光衰减器均提供该模式。 N7752C 使用来自监测仪分流器后面光电二极管的反馈信号,准确控制光输出端的预期功率电平。 在实施功率控制时,仪器还会自动校正输入端的功率变化,从而使您设置的输出功率电平保持 ±0.02 dB(典型值)的可重复性。
N7752C 配备的额外功率计可用于测量外部光纤的绝对功率电平,从而校准衰减器输出监测仪的偏置,并修正来自连接器、开关和耦合器等器件的外部插入损耗。这些功率计配备模拟电压输出,能够为自动对准应用提供与光功率电平呈线性或对数比例的反馈。 新型对数模式有助于在宽动态范围内追踪信号电平,例如在探头调整期间。
衰减设置模式
在衰减模式下,您可以直接设置衰减的校准值(单位:dB),无需使用功率监测仪。如果没有功率监测仪,或者因调制方式、其他波长信号或反向信号的影响导致功率监测仪读数不准确,您还可以使用过去专为衰减器开发的软件进行设置。
先进的功率变化控制
该功能特别适用于测试对快速功率变化敏感的器件,变化速率可在仪器上设置,且适用于衰减模式。N7752C的设置范围为0.1至1000 dB/s。N77-C衰减器的新功能是能够通过编程控制衰减步进,包括每次步进的驻留时间,步进可自动执行,也可与外部触发器同步执行。 此外,这些衰减器还提供触发输出功能。借助此新功能,您无需为每次步进发送单独的编程指令,还能与其他仪器高效同步。在功率控制模式下,若进行衰减扫描或激活快门模式,可采用1000 dB/s的变化速率。
针对外部损耗的校准偏置
综合偏置功能使您能够校准各种测试系统中的光路径。为补偿跳线、连接器和开关造成的损耗,我们在衰减因子上添加了偏置,并在输出功率电平上添加了独立偏置。此外,波长与偏置值可成对保存至表格,以便补偿测试系统中光路径的波长相关效应。 由此,您便能直接精确设置被测器件输入接口上的光功率电平。
N7752C配备额外的光功率计通道,使您能够更轻松、更便捷地进行校准。您可以通过固件功能读取参考功率计的数值,用于确定所有功率相关的偏置。从参考功率计读取的功率值与衰减器实际值之间的差异将作为偏置自动保存。
新用户衰减模式校准
为校准选定信号源波长的衰减设置模式,我们采用了一种新的自校准方法。该方法会在选定波长且功率高于0 dBm时进行校准,若测试系统保持稳定,校准过程约需2分钟。若需在不同波长下使用衰减器,可禁用用户校准功能,或在新波长下执行校准。 系统在预设或重启后,可重新启用校准数据,亦可保存已启用校准的配置。
功率设置与控制模式
在功率设置模式下,您可以设置衰减器的输出功率电平。所有N77-C可变光衰减器均提供该模式。N7764C利用监测仪分流器后端光电二极管的反馈信号,精确控制光输出端的预期功率电平。
在实施功率控制时,仪器还会自动校正输入端的功率变化,从而使您设置的输出功率电平保持 ±0.02 dB(典型值)的可重复性。
光衰减器仪器用于灵活控制测试系统中的光信号功率电平。其主要应用是通过测量误码率(BER)与输入信号功率的关系,确定光接收器的灵敏度。N7768C提供4个衰减器通道,适用于50 µm/OM3多模光纤系统。
为进行可靠的多模收发器测试,用于设置功率级别的仪器不应改变模态分布。N7768C多模衰减器配备大容量光学滤波器和准直光束路径,可确保所有输入模态均匀衰减。它还能维持符合IEC 61280-4-1环形通量条件的信号光束轮廓。
对输出功率进行监测,特别是能够准确、稳定地完成功率设置,不受输入功率的影响。便捷的偏置参数允许设置的功率与设置路径中其他光元器件之后的信号相对应。
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光衰减器是一种用于以可控、可重复方式降低光信号功率的设备。在测试设置中,它基础 信号损耗、平衡通道或路径间的功率水平,以及保护敏感接收器或组件。通过模拟真实世界的链路条件,光衰减器有助于确保组件在实际部署中可靠运行。
在需要时使用光衰减器:
衰减器广泛应用于研发实验室、系统验证及生产环境中,适用于被动与主动光学元件。
在为测试系统选择光衰减器时,请考虑以下关键规格参数,以确保其满足应用需求:
其他重要规格参数可能包括:用于精密测试的偏振相关损耗(PDL)、自动化测试所需的重复性,以及动态测试场景下的切换速度。将这些参数与您的测试环境相匹配,有助于确保测试结果的可靠性和准确性。
偏振相关损耗(PDL)指信号衰减随其偏振状态变化的特性。在精密测试中,特别是针对相干或偏振敏感器件时,低PDL可确保无论信号偏振状态如何均能获得一致的测试结果。这在表征调制器、收发器及光子集成电路时尤为重要。