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LA5系列PCIe协议分析仪，PCIe 6.0协议测试背板

是德科技P5563B PCIe 6.0协议测试背板提供了一种便捷的测试方式，通过自带便携式供电被动背板，可对PCIe 6.0扩展卡进行测试。该背板为所有测试器与分析仪组合及被测设备提供所需电源。

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  • 标准

    PCIe 6.0、PCIe 5.0、PCIe 4.0、PCIe 3.0、PCIe 2.0、PCIe 1.0、CXL 1.1、CXL 2.0

  • 协议

    NRZ，PAM4

  • 最大数据速率

    64 GT/s

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关键性能

见证您设计的真实表现

测试平台配备1个CEM至CEM连接器的测试总线。功能齐全、操作便捷且便于携带的P5563B，可简化新型PCIe产品测试过程中的设备配置。

  • 支持2.5 GT/s至64 GT/s
  • CEM连接支持x4、x8和x16物理通道宽度 
  • 支持PCIe 6.0
  • CEM SI增强功能可降低串扰并提升信号完整性
  • 采用低损耗材料，支持可靠的64GT/s运行
  • 集成低噪声电源，配备PCIe辅助电源，适用于高功率终端设备
  • 稳定的机械结构，确保与客户被测设备（DUT）配合时可靠运行
  •  支持EDSFF/OCP-NIC外形尺寸

服务 支持