如何加快非易失性存储器（NVM）设备的开发

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+ 设备 电流分析仪

理解非易失性存储器（NVM）的切换行为

PCRAM、MRAM 和 RRAM 等新兴的非易失性存储器（NVM）技术，需要对瞬态切换行为进行精确表征，以提升其性能、可靠性和可扩展性。这些器件依赖于快速的设置/复位脉冲（通常小于 100 ns），因此准确的电流波形测量对于其开发至关重要。

工程师必须同时捕获快速瞬态电流和数百万次开关循环中的长期可靠性行为。传统的测量方法在带宽、动态范围和存储深度方面均有所欠缺，这限制了有效分析这些复杂行为的能力。

NVM瞬态分析与开发解决方案

要捕获进阶器件中的快速瞬态电流行为，需要高带宽测量和精确的时序控制，才能准确观察开关动态。是德科技 CX3324A 器件电流波形分析仪提供高达 200 MHz 的带宽和 1 吉样本/秒 (GSa/s) 的采样速率，能够详细可视化快速的电流变化。当与 B1500A 参数分析仪集成时，该解决方案可在统一的测试平台上支持电流-电压 (IV)、脉冲 IV 以及可靠性测试。这些功能相结合，可实现全面的非易失性存储器 (NVM) 表征，帮助工程师优化器件性能、提高可靠性并加速开发工作流程。

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