加速下一代非易失性存储器的研发
应用指南
加速下一代非易失性存储器的研发 - 应用简介
透视用于 PCRAM、MRAM 和 RRAM 等新兴 NVM 的快速瞬态表征
CX3300 系列器件电流波形分析仪主要特性：
- 最大 200 MHz 带宽，1 GSa/s 采样率
- 14/16 位分辨率和低噪声感应
- 100 pA 至 100 A 电流测量范围
- 最大 256 Mpts 存储器深度
- 外观和操作体验类似于示波器
优势：
- 凭借高带宽和宽动态范围，能够清晰呈现小于 100 ns 的设置/复位（Set/Reset）脉冲中的瞬态电流波形
- 通过多种分析功能，在直观、先进的图形用户界面（GUI）上迅速分析瞬态电流对所应用电压脉冲的响应
- 凭借低本底噪声和深存储器深度，在几秒钟内即可捕获 100 万个周期的设置/复位/读取（Set/Reset/Read）波形，从而高效地执行可靠性测试
在单个仪器上进行基本 IV 表征、CV、脉冲 IV 测量以及闪存和新兴 NVM 的可靠性测试
B1500A 半导体器件参数分析仪主要特性：
- IV 测量电流范围 0.1 fA 至 1 A ，电压范围 0.5 μV 至 200 V
- 交流电容测量范围为 1 kHz 至 5 MHz
- 高达 ±40 V 的电压脉冲和任意波形生成能力
- IV 测量和脉冲生成之间的自动资源切换
- 脉冲 IV/瞬态 IV 采样率高达 200MSa/s，无负载线效应
优势：
- 准确测量 IV 和 CV 曲线，支持自动参数提取
- 通过在脉冲应力周期和 IV 测量之间自动切换，可以快速、轻松地执行可靠性测试，例如耐久性和保持性等
- 通过脉冲 IV/瞬态 IV 功能，可以精确执行 NBTI/PBTI、RTN（随机电报噪声）等高级测量
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