如何将高速测试夹具从系统中分离出来

模块化采样示波器
+ 模块化 采样示波器

从高速测量中消除夹具效应

高速测量通常包含被测器件与用于连接该器件的测试夹具、电缆或探头的综合响应,这使得难以孤立器件的真实电气特性。从事400G、800G和1.6T系统高速互连工作的工程师必须消除由夹具引起的损耗、反射和失真,才能在预定的参考平面上准确评估器件的性能。

去嵌入过程需要使用采样示波器的TDR/TDT模块来表征夹具路径的S参数。该工作流程采用数学校正技术,从器件与夹具的复合响应中剔除夹具的影响,并将参考平面移至器件接口处。这需要精确的夹具建模、正确的端口定义以及经过验证的去嵌入技术。

测试夹具去嵌入解决方案

对高速测试夹具进行去嵌入处理,需要对夹具路径进行表征,并从测量响应中通过数学方法将其去除,从而在预期的参考平面上还原器件的真实行为。是德科技的测试夹具去嵌入解决方案包括一款配备TDR/TDT模块的模块化采样示波器,以及支持自动夹具去除和基于S参数校正的信号完整性软件。 该工作流程使工程师能够应用测试夹具模型、重新分配端口,并将参考平面移至器件接口,从而比较原始结果和校正后的结果,并将器件性能与夹具引起的效应区分开来。

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