如何对VCSEL器件进行LIV测试

精密源测量单元

采用窄脉冲电流输出进行LIV测试

垂直腔面发射激光器（VCSEL）的光-电流-电压（LIV）测试需要精确控制注入电流（I）并测量光输出功率（L）。测试过程包括系统性地改变电流、测量对应的光输出，并记录施加的电压（V）。测试工程师可借助源/测量单元（SMU）实现可编程电流源输出，向VCSEL施加宽范围电流。同时需借助高速光电探测器捕捉发射光并精确测量其功率。工程师通过绘制这些数据点可生成LIV曲线，从而详细了解VCSEL在不同工作条件下的性能特征。

关键挑战在于开展测试以减轻自热效应对二极管的影响，并确保测量结果的准确性。温度变化对激光二极管的行为具有显著影响——随着温度升高，激光效率往往会降低。测试工程师需要更窄的脉冲输出能力来抑制自热效应，同时需要高速采样率以捕捉快速且极其窄的电流/电压脉冲，从而验证动态特性。此外，在激光二极管（LD）脉冲发光期间，必须同步测量光电探测器（PD）电流。这要求在测量软件和源管理单元（SMU）中实现LD与PD之间的精确时序控制。

窄脉冲LIV测试解决方案

表征VCSEL器件需要一种能够减轻自加热对二极管影响的解决方案，以确保测量结果的准确性。是德科技窄脉冲LIV测试解决方案是一套全面的测试平台，支持工程师在多样化工作条件下（尤其在超低电流和电压水平）开展深度LIV测试。该方案在紧凑的1U机架空间内集成20路SMU通道，通过融合脉冲发生器与数字化仪仪器有效消除了仪器使用仪器 streamline 仪器配套的IV曲线测量软件可实现快速、无需编程的测试执行。

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