如何测试 LPDDR6 发射器的符合性

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针对低功耗内存系统的 LPDDR6 发射器验证

随着 AI 工作负载的扩展,LPDDR6 内存接口必须在比前几代更低的电压下运行,并具备更严格的时序裕度,同时提供更高的带宽。这些条件增加了发射器对抖动、符号间干扰和电源噪声的敏感度,使得在目标数据速率下维持符合规范的眼图开口变得更加困难。 此外,LPDDR6 架构上的变更(例如更宽的数据路径和双子通道)带来了新的信号完整性挑战,必须在各种电压、工艺和温度条件下进行验证。

LPDDR6 发射端符合性测试旨在评估在实际负载和信道条件下,传输信号是否符合 JEDEC 定义的眼图开口、时序和电压等电气要求。 工程师必须在物理层测量眼图、抖动分量、上升和下降时间、电压电平以及掩模裕度。这些测试需要示波器 25 GHz示波器 低示波器 、高性能探头以及自动化分析软件,以确保获得可重复且符合标准的测试结果,同时将测量不确定度降至最低。

LPDDR6 发射端符合性测试解决方案

LPDDR6 发射端符合性测试需要精确的波形捕获和基于眼图的自动化测量,以验证高数据速率下的信号完整性和时序裕度。 是德科技的 LPDDR6 发射端符合性测试解决方案将高带宽示波器 自动化符合性测试软件相结合,可执行眼图分析、抖动特性分析及掩模测试。这种方法简化了测试设置,提高了测量重复性,并使工程师能够在整个设计和系统验证过程中高效地验证 LPDDR6 发射端的性能。

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