Medalist i3070 在线测试平台

是德科技Medalist i3070 ICT系统消除了在线测试的复杂性，它提供了菜单驱动的编程功能、有益的自动工具及兼容的平台架构，可以简便地实现演进，提供业内领先的程序移植能力。

简介

作为下一代在线测试系统(ICT)，是德科技Medalist i3070提供了无可比拟的测试覆盖范围和强健性，投资回报显著。我们的解决方案可以使产出提高20%，同时提高覆盖范围，它进一步扩大了我们屡获大奖的非向量测试技术，提高了世界上最公认的在线测试平台的性能。

是德科技Medalist 3070是世界上最灵活、最稳定的在线测试系统。是德科技Medalist i5000是世界上学习速度最快、最容易部署的ICT系统。现在，通过是德科技Medalist i3070 ICT系统，您可以同时获得这两个系统的最佳特点。您已经熟悉的倍受信赖、功能强健的系统，现在变得更加简便易用。Medalist i3070把一流的是德科技Medalist 3070的所有功能与Medalist i5000的先进架构和简便易用性结合在一起。它提供了直观的点击界面、自动测试调试和优化工具及一系列其它功能，加快了测试编程和部署的每个环节。

Medalist i3070加快成功步伐

对世界各地的电子制造商来说，Medalist i3070为把在线测试能力带入生产线中提供了最快速、最简便的方式。

操作简单，部署速度更快

菜单驱动的图形用户界面(GUI )可以简便地使用菜单获得Medalist i3070的强大处理能力。一套自动工具则进一步加快了学习周期，可以更快地开始执行测试。

吞吐量高，回报周期更快

与传统的是德科技Medalist 3070相比，Medalist i3070的模拟测试吞吐量提高了10 – 50%。由于经济的价位，Medalist i3070可以大大减少资本开支，同时更快地获得测试投资回报。

灵活的架构，配置速度快

Medalist i3070拥有单模块、双模块和四模块配置，可以根据具体生产和预算要求配置测试系统。

兼容的平台，演进速度更快

现有的3070和i5000夹具和程序不需作出任何变动，就可以在Medalist i3070上运行。Medalist i3070全面利用您在测试中的现有投资，您不用损失时间和金钱，就可以实现演进。

主要特点

从按键、菜单驱动的界面到灵活的架构，是德科技Medalist i3070的每个方面都是为加快印刷电路板和组件投产和出产速度而设计的。它提供了强大的资源，在预算不断缩减、资源稀缺、时间表紧张的时代中，帮助电子制造商创造经济效益。

简便易用的GUI

即使ICT经验有限的人也可以不经培训或只经少量培训，就开始使用Medalist i3070。它使用鼠标、而不是键盘进行编程，因此不需输入命令或处理命令语法或拼写。Medalist i3070消除了测试系统与操作人员之间的障碍，可以迅速完成优质工作，帮助工程师用非常短的学习周期，实现很高的生产效率。

VTEP v2.0

Medalist VTEP v2.0 是一套非向量测试1解决方案，其中包括新的网络参数测量技术及原来的 Medalist VTEP 技术和屡获大奖的Medalist iVTEP。VTEP v2.0中融汇了所有这些解决方案，把最优秀的非向量测试放到您的手中。网络参数测量技术是业内率先提供的技术，可以检测电源针脚和接地针脚上的缺陷，iVTEP 则集中测量信号针脚的超低值 (< 5fF)。此外，采用原来的Medalist VTEP作为内核，意味着测量灵敏度提高了4倍，标准偏差改善了5倍。随着技术进步、封装缩小和信号速度加快，VTEP v2.0对迎接当前和未来的挑战必不可少。1. 非向量测量技术不需使用码型(矢量)，也不需对电路板通电，即可执行测试，保证快速可靠的测量结果。

AutoDebug (自动调试)

通过Medalist i3070，用户只需按一个按钮，就可以调试未通电的无源模拟器件，即使ICT经验有限的人也可以在几个小时内执行完整的模拟测试调试。AutoDebug (自动调试)微调测试，确保在制电路板可靠地通过测试。它运行选定测试，捕获测量数据，评估数据，增加或删除测量选项，汇编测试。可以由您设置规则，而由AutoDebug执行测试。

AutoOptimizer(自动优化程序)

通过按一个按钮，可以优化Medalist i3070测试，把每项测试的测试时间降低10 – 0%。AutoOptimizer检查测试是否稳定，清除代码中存在的冲突，实现干净的、平滑运行的测试。清除生产运行过程中改动的程序具有重要意义，它可以再次快速、干净、可靠地运行测试。

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