网络研讨会
随着射频测量要求的日益提高，信号源的性能对工程师能够表征的内容的影响也越来越大。信号源产生的噪声和杂散信号可能会掩盖低电平器件的行为，而测试路径损耗和多源测量则会增加信号电平、机架空间、布线和设置方面的复杂性。
欢迎参加由是德科技产品与研发工程师主持的30分钟介绍会，了解全新的旗舰 XG7模拟信号发生器。您将现场体验该平台，了解其架构如何满足相位噪声、宽带噪声、杂散成分、输出功率以及多通道测试等要求，并了解这些设计选择如何转化为实际的射频测量结果。
从事高性能射频测量工作的射频工程师、系统设计师和技术决策者应参加本次会议。本环节特别适合在航空航天与国防、无线通信以及进阶 研发环境中，负责处理信号源噪声、有损测试路径、高功率激励信号或多通道测试方案的团队。