网络研讨会
在射频测量中出现噪声或杂散信号时，其中有多少来自被测设备，又有多少来自信号源？随着被测设备性能的提升，信号源的缺陷会严重限制所需表征的特性。
本次在线研讨会将详细介绍是德科技最新推出的Pro XG7模拟信号发生器，听众将有机会了解这一全新平台的架构及其在实际测量中的性能，以及如何应对相位噪声、宽带噪声、杂散信号、输出功率以及测试设置的复杂性等常见的射频测试挑战：
区分设备特性与信号源引入的噪声和杂散信号
了解YIG（钇铁石榴石）和DDS（直接数字合成）架构如何协同工作以控制信号缺陷
利用高达 +22 dBm 的纯净校准功率，满足高要求设备的测试需求并补偿测试路径损耗
两个独立的射频源集成在一个 2U 机箱内，从而减少了机架空间、布线和设置的复杂性
射频/微波研发工程师、射频测试工程师、无线通信工程师、半导体测试工程师、系统架构师，以及从事高性能信号源与射频测量工作的技术人员。