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晶圆和芯片级光测试

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晶圆和芯片级光测试

在对用于光子集成电路的晶圆和芯片进行光测试时，需注意输入光的偏振状态。N7700A应用软件可提供相应的测试功能。
利用 N7700A IL/PDL 软件引擎校准光谱测试工作站中的光路径

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利用 N7700A IL/PDL 软件引擎校准光谱测试工作站中的光路径

器件的光 IL 和 PDL 将器件输出的信号与先前记录或校准的、作为参考测量值的输入信号相关联。为获得最佳结果，需要使用与器件相同的设置定期重复进行参考测量。通过使用 IL 去嵌入，我们可以将参考数据应用于多个光路径，而无需在每个端口上重复测量参考值。
Keysight Portable Signal Generators Overview

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是德科技便携式信号发生器概述

深入解析是德科技便携式模拟信号发生器的核心功能与规格参数，其具备卓越的功率范围、信号纯度及速度表现。内容涵盖：核心功能与规格参数、仪器入门指南及应用场景。
Two-port Measurements and S-Parameters

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双端口测量与S参数

网络分析仪双端口测量与S参数的分析
Keysight Support Portal 是德科技支持门户网站

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是德科技支持门户

是德科技支持门户网站（Keysight Support Portal）是一个面向是德科技客户的一站式在线支持与服务平台，旨在帮助技术用户和设备管理员更高效地获取技术支持、管理资产并应对复杂的测试与测量挑战。
Poppy Crum 博士 斯坦福大学神经科学家/技术专家

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Poppy Crum 博士斯坦福大学神经科学家/技术专家

来Keysight World Innovate了解数字孪生如何改变设计。
Keysight Medalist VTEP v2.0 Powered! 采用覆盖扩展技术

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是德科技 Medalist VTEP v2.0 采用覆盖扩展技术

覆盖扩展技术是 VTEP 与边界扫描的混合体。它结合了 VTEP 和边界扫描的优点，并增强了安捷伦在线测试系统的整体功能。
N5186A MXG Vector Signal Generator Power Amplifier Test Demo

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N5186AMXG 信号发生器功率放大器测试演示

N5186AMXG 信号发生器概述，通过N9042BUXA 分析仪演示其直接数字合成架构的优势、同频带内EVM解调性能及异频带ACLR性能。
PD1500A Advanced Dynamic Power Device Analyzer / Double Pulse Tester

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PD1500A进阶 功率器件分析仪/双脉冲测试仪

宽禁带功率半导体器件具有更高的工作频率，且能在更高电压和温度下运行。这些特性为从事电动汽车供电和充电基础设施设计的工程师提升了设计效率，但同时也给这些器件的特性分析和建模工作带来了挑战。是德科技PD1500A双脉冲测试仪能够克服这些测量难题。
Realizing the Potential of V2G-Enabled EVs as a Distributed Energy Resource

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释放具备V2G功能的电动汽车作为分布式能源的潜力

随着全球电动汽车的普及势头日益增强，探讨电动汽车（EV）与电网如何协同发展以支持车辆电气化变得比以往任何时候都更为重要。电动汽车电池不仅能从充电站获取电力，还能通过向电网回馈部分储存的电能，在电网平衡中发挥关键作用。 敬请关注是德科技车网互连（V2G）专家Andrew Cifala的讲解，他将阐释何为具备V2G功能的电动汽车，并阐述如何将其作为分布式能源资源，与太阳能、风能等可再生能源协同发挥潜力。
N7786B Polarization Synthesizer

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N7786B 偏振合成器

本数据表描述了N7786B偏振合成器。该器件集成了基于高速铌酸锂的偏振控制器、偏振分析仪以及基于微控制器的驱动电路。
Polarization Alignment Methods

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偏振对准方法

光学偏振与器件及探针对准的原理说明与编程实现
Methods for PER and PDL Measurements with a Polarization Scrambler

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利用偏振扰乱器进行PER和PDL测量的方法

了解如何编程同步偏振扰乱器，使其通过一系列偏振状态实现可重复步进，从而快速完成偏振相位比（PER）和偏振度（PDL）测量。
N7784B High Speed Polarization Controller

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N7784B 高速偏振控制器

本数据表描述了该偏振控制器，其包含高速偏振控制器及基于微控制器的驱动电路。该装置可运行于多种模式。
Polarization Dependent Loss (PDL) Measurement

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偏振相关损耗（PDL）测量

本应用说明讨论了使用8169A偏振控制器进行偏振相关损耗（PDL）测量过程。
N778xC Polarization Test Products

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N778xC 极化测试产品

新型N778xC偏振测试产品可实现对光学部件及子系统的高速度、高性能特性分析与验证。
E3846A Polarity Check Technology

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E3846A 极性检测技术

是德科技极性检测技术增强了Keysight 3070系列3系统，使其能够安全自动地检测极性反接的电容器。这项创新测量技术采用了全新工程设计，旨在提供稳定全面的测试解决方案。
Enhanced Polarity Check for Improved Accuracy and Reliability

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增强型极性检测，提升准确性与可靠性

本白皮书探讨了针对SMD J型引脚钽电容器的增强型极性检测技术，为方向检测提供了更精准高效的方法。
Polarized Capacitor Orientation Test in ICT Test Platform

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ICT测试平台中的极性电容器方向测试

了解为何检测极性错误的电容器并尽早修复至关重要。了解更多。
Measure Polarization Dependent Loss of Optical Components

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测量光学元件的偏振依赖损耗

偏振相关损耗与插入损耗对光纤通信系统中的光器件至关重要。探索多种测试方法！
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