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GoldenGate 2012――产品版本
Highlights
GoldenGate 2012 的关键设计分析更新内容：
- 性能增强――载波分析改进扩展了是德的射频性能优势，极大地提高了在多内核 CPU 上运行的性能，并提供了更出色的可扩展性。载波噪声和 SSNA 噪声分析性能也得到了显著提升。
- 快速的良率贡献器——只针对重要性能进行优化，以提高良率。可在 RFIC 设计流程的任何阶段确定器件、电路与模块的良率贡献。添加了针对射频和模拟/混合信号设计人员的新分析功能，包括直流、交流和振荡器分析。
- 快速的电路包络分析――通过广泛地支持适用于各种型号的 RFIC 中心源配置，包括存储器效应，将射频功能路径仿真速度提高一个数量级以上。
- 在载波分析基础上实现大信号稳定性――使用大信号黑盒子 Nyquist 和 Eigenvalue 稳定性，对包含 s 参数模块的示波器和驱动射频电路的稳定性进行分析。
- 瞬态噪声分析――可对无周期的时域仿真进行噪声分析。
- 与 SystemVue 进行协同仿真（只限于早期访问用户）――支持与 SystemVue 2011.10 进行协同仿真，包括导出到 SystemVue 的快速包络建模。
- 特定的应用――通过 GoldenGate 增强的晶体振荡器会聚选件，减少仿真晶体振荡器时的麻烦。
适用于设计验证的 GoldenGate 2012 增强功能：
- Keysight X 参数*支持――通过创新技术改进射频设计验证功能。
- 快速失配分析――在不影响精度的情况下显著加快 RFIC 设计人员每天执行的模块和功能路径验证，包括增加了对 Cadence 角点工具的支持。
- 射频无源元器件库更新――使用 GoldenGate 库的更新adslib 对射频封装和电路板效应等设计内容进行全面仿真，GoldenGate 库现在包括延迟定义（delay-defined）的传输线路和 Philips-TU Delft 标准/用户定义的接线模型。
可用的增强功能：
- 新的分析、环境、选件和结果 GUI――通过适用于 Cadence 模拟设计环境的最新 GoldenGate 树形/选项卡式 GUI，提高工作效率并简化射频分析和环境/选项选择的配置。
针对现有用户：
- GoldenGate 2012.01 版本注释（需要登录）
Description
GoldenGate 是一款最可信赖的仿真、验证与分析解决方案，非常适用于高集成射频电路设计，其独特的仿真算法经过优化，可解决目前复杂的 RFIC 设计难题，并可在完成整个收发信机设计之前进行全方位表征。GoldenGate 是 Keysight RFIC 仿真、分析和验证解决方案的一部分，该解决方案还包括用于三维平面电磁仿真的 Momentum、用于系统级验证的 Ptolemy/SystemVue 无线测试台以及用于先进数据分析的先进设计系统（ADS）数据显示。作为独特而完整的 RFIC 设计流程的一部分，该套件连接着射频系统、子系统和元器件级设计与分析。GoldenGate 可与 Cadence IC5 和 IC6 平台完全兼容。
GoldenGate 2012 对高级芯片和 CMOS 技术节点中的 FRIC 设计的所有重要方面都进行了改进。它提供了关键分析和验证流程的主要增强性能，使设计人员不仅能够改善 RFIC 的性能和良率，还可提高生产效率。
性能增强方法
虽然很多方法都能够提供射频仿真性能增强功能，但是德的方法可以在 GoldenGate 产品的整个寿命周期对性能和存储器进行一系列持续不断的改进。不同版本的重点都在于提高各种仿真技术的性能，而总体目标是确保技术水平不断前进。平均来说，GoldenGate 每年可以将客户最关心的电路射频仿真性能提高一倍，甚至可以将 RFIC 应用于 65nm 及以下的制程技术。当然，我们能够在影响精度和兼容性的情况下提供以上功能。同样，GoldenGate 2011 保持了原有版本的真正优势，具有业界最高的性能、最佳的稳定性及可信赖的射频设计和验证解决方案，非常适合复杂的 RFIC。
针对模拟和射频设计人员的最新的快速失配分析功能
以流程为中心的 Monte-Carlo 分析功能主要用于分析大范围或全球变化效应对电路性能的影响，而失配分析通常在了解小范围或局部效应对器件特性的影响时发挥重要作用。由于可随处运行失配分析以注销（signoff）模块级，因此在这一过程中会耗费大量仿真时间、计算资源和仿真器许可证。最初开发是德的快速良率和失配技术，是为了解决这部分的射频设计流程，以减少在时间、许可证和硬件可用性方面的仿真成本。通过 GoldenGate 2011，该解决方案能够扩展到非射频或传统的模拟分析中。现在，整个设计团队可以充分利用这个独特的解决方案。
观看 EDA 创新：通过快速的失配分析验证 RFIC 的实用方法网络研讨会。
快速的电路包络分析
随着新无线标准的出现，信号结构的复杂性、调制和频段兼容性要求在所需执行的性能验证类型和范围等方面凸显出来。大多数情况下，多音频分析远不足以捕获电路特性，并会在建模某些效应时出现误导或无效的情况。同样，电路包络分析已成为了解射频电路特性和调制信号的有用技术。然而，对于大规模 RFIC 来说，在存在寄生效应或包括其他必要但非射频电路时，完整的功能路径分析可能是不切实际的。为了解决这一难题，是德率先使用了快速电路包络技术，可以精确地建模这些电路的非线性特性，包括用于仿真的带内和带外存储器效应，以加快分析速度。
观看 EDA 创新：射频电路的存储器效应网络研讨会。
完整的无线测试台
随着各种新标准的出现，无线通信系统变得越来越复杂。系统工程师和射频 IC 设计人员需要在根据技术指标进行验证方面进一步加强合作。是德是业界唯一充分利用通信系统和射频电路仿真器的强大功能与全面的无线验证 IP 程序库的公司，可在系统和电路级加快对复杂 RFIC 的验证速度。该方法以 Ptolemy 和 GoldenGate 之间的链路为基础，允许系统工程师利用自身专业技术对无线验证测试台程序库进行配置与封装，并且支持 RFIC 设计人员通过恰当的方式进行 IC 级设计。
观看了解全双工 LTE 收发信机的交叉调制效应或 EDA 创新：射频电路的存储器效应网络研讨会。
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* “X 参数”是是德科技公司的注册商标。X 参数格式和基础方程是公开的并存档。如欲了解更多信息，请点击此处。