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Compact, multichannel vector signal generator capable of signal generation up to 8.5 GHz with 1 GHz of modulation bandwidth per channel.
出色的 50+ GHz 探头,让您快又灵活地测试 802.3ck 和 PCIe® 6.0 设计
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E2150B 43G 电/光 BER 测试系统是可提供达43G电或光数据流的全集成承包可扩展解决方案。E2150B用Keysight最先进的仪器测试用于40G数字传输线的40G电或光模块和元件。该43G系统可帮助元件制造商分析各种40G元件、线路卡或整个系统所引入的实际误码率(BER)。
E2150B模块化平台基于Keysight ParBERT 81250 43G、 E4894A 2.7G 或 E4896A 3.35G模式发生器捆绑,E4895A 2.7G 或E4897A 3.35G差错探测器捆绑,光测量仪器,电缆,机架,PC和软件。该系统在串行接口上产生标准伪随机二进制序列(PRBS)和用户定义码型,并能采用用户定义码型或PRBS分析误码率。由于具有对静态OC-768 SONET和STM-256 SDH帧的仿真能力,因而E2150B是有能力测试OC-768系统和线路卡的系统。
Keysight E2151B是43G光升级BER测试系统,已拥有电ParBERT的客户能升级到全集成的电/光BER测试系统。
43G BER测试系统平台的标准配置是在2m高的测试柜中装有PC机、软件、全部电和光测量仪器、所需要的电缆,以及在可旋转台面上的18英寸平板监视器。标准配置也为系统机架布设、电缆、仪器放置、散热和被测试设备(DUT)接口板作了优化。16个2.7G 或 3.35G的独立通道从专用连接板引出,接到用户的DUT,或绕回到43.2G复用器,以产生简单的串行数据流。用于差错探测器的2.7G或3.35G通道也可接到专用连接板。