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E2150B 43G 电/光 BER 测试系统是可提供达43G电或光数据流的全集成承包可扩展解决方案。E2150B用Keysight最先进的仪器测试用于40G数字传输线的40G电或光模块和元件。该43G系统可帮助元件制造商分析各种40G元件、线路卡或整个系统所引入的实际误码率（BER）。
E2150B模块化平台基于Keysight ParBERT 81250 43G、 E4894A 2.7G 或 E4896A 3.35G模式发生器捆绑，E4895A 2.7G 或E4897A 3.35G差错探测器捆绑，光测量仪器，电缆，机架，PC和软件。该系统在串行接口上产生标准伪随机二进制序列（PRBS）和用户定义码型，并能采用用户定义码型或PRBS分析误码率。由于具有对静态OC-768 SONET和STM-256 SDH帧的仿真能力，因而E2150B是有能力测试OC-768系统和线路卡的系统。
Keysight E2151B是43G光升级BER测试系统，已拥有电ParBERT的客户能升级到全集成的电/光BER测试系统。
43G BER测试系统平台的标准配置是在2m高的测试柜中装有PC机、软件、全部电和光测量仪器、所需要的电缆，以及在可旋转台面上的18英寸平板监视器。标准配置也为系统机架布设、电缆、仪器放置、散热和被测试设备（DUT）接口板作了优化。16个2.7G 或 3.35G的独立通道从专用连接板引出，接到用户的DUT，或绕回到43.2G复用器，以产生简单的串行数据流。用于差错探测器的2.7G或3.35G通道也可接到专用连接板。
