功率器件分析仪/曲线追踪仪：PD1550A| 是德科技Keysight

进阶功率器件分析仪 / 双脉冲测试仪

PD1550A双脉冲分析仪/先进功率器件分析仪可对宽带隙双脉冲测试提供可靠且可重复的测量结果。

最小电流测量分辨率

10 fA
通道数

8
支持的测量

导通、关断、开关、动态导通电阻、栅极电荷、反向恢复、动态电压/电流
最大输出电压

1500
最大输出电流

3000 A

关键性能

对分立器件和功率模块中的宽禁带（SiC、GaN）功率半导体动态特性进行可靠且可重复的测量。
测量的特性包括导通、关断、开关、反向恢复、栅极电荷等。
True Pulse 隔离探头，用于测量功率模块的高侧器件。
无焊接触技术，无需焊接即可实现可重复且可靠的连接效果。
为被测设备（DUT）和用户均提供安全的测试环境。
该平台支持定制、扩展和升级，采用模块化设计，可对所有功率器件进行测试。

作为一款现成的测量解决方案，PD1550A 可对宽禁带半导体功率模块进行可靠且可重复的测量。该平台既保障了用户安全，也保护了系统的测量硬件。其确保双脉冲测试（DPT）结果可重复、可靠的能力，源于是德科技在测量科学领域80余年的专业积淀。凭借在 PD1500A 项目中与客户及标准组织紧密合作积累的经验，是德科技现正助力客户克服宽禁带功率模块动态特性分析的挑战。相关创新包括高频测试（吉赫兹量级）、低漏电流（飞安级）以及脉冲功率（1,500 A 电流，10 μs 分辨率）等领域的突破。因此，是德科技凭借其独特优势，能够助您攻克功率半导体动态特性分析的各项挑战。

PD1550A 配备了探头补偿、偏移调整、去偏移和共模噪声抑制等标准进阶技术。这些技术被应用于创新的测量拓扑结构和布局中。针对该系统，专门开发了一套半自动校准程序（AutoCal），用于校正系统增益和偏移误差。该系统还采用去嵌入技术，以补偿分流器中的电感寄生效应。True Pulse Isolate Probe 技术可实现精确的高侧 Vgs 测量，而无焊接触技术则无需焊接大型接触垫，即可实现可重复且可靠的测量。

联合电子设备工程委员会（JEDEC）是微电子行业开放标准及出版物制定的全球领导者。JEDEC各委员会在制定涵盖广泛技术的标准方面发挥着行业引领作用。

JEDEC 委员会：JC-70 宽禁带功率电子半导体
JEDEC标准认识到有必要为功率半导体行业制定宽禁带（WBG）标准。2017年9月，JC70宽禁带功率电子转换半导体委员会正式成立，分别负责GaN（JC70.1）和SiC（JC-70.2）标准。每个部分下设三个工作组，分别专注于可靠性与认证程序、数据表要素与参数，以及测试与表征方法。

是德科技正积极参与这些标准的制定工作。

随着JEDEC持续制定宽带隙（WBG）器件的动态测试标准，一些标准化测试方法已初见端倪。是德科技（Keysight）的PD1500A DPT可测定以下关键性能参数：