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动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪

是德科技PD1500A双脉冲测试仪/动态功率器件分析仪可对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。该解决方案不仅能保障用户安全，还能保护系统的测量硬件。

产品图片

  • 最大输出电流

    200 A

  • 最小电流测量分辨率

    10 fA

  • 最大输出电压

    1200 V

  • 支持的测量

    导通、关断、开关、动态导通电阻、栅极电荷、反向恢复、动态电压/电流

  • 通道数

    8

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了解包含内容，探索是德科技提供的可用升级选项。

关键性能

  • 能够可靠、可重复地测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特性。
  • 测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征。
  • 同时满足被测器件和用户对测试环境的要求。
  • 模块化平台具有可扩展性、可升级性，能够对所有功率器件进行测试。

 

作为现成的测量解决方案，PD1500A动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪能够对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。该平台不仅能确保用户安全，还能保护系统的测量硬件。

 

这种确保DPT结果可重复的能力，依托于是德科技先进的专业测量技术，例如在高频测试（GHz级）、低泄漏（飞安级）和脉冲功率（1,500 A电流、10 μs分辨率）等方面的创新。这些创新使是德科技占据独特优势，能够有力地帮助您克服动态功率半导体表征方面的挑战。

 

PD1500A 采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。 这些技术已在创新的测量拓扑和版图中应用。此外，我们专门为本系统开发了半自动校准例程（AutoCal），用于校正系统增益和偏置误差。该系统还采用去嵌技术来补偿分流器中的电感寄生效应。

 

JEDEC 是为微电子行业开发开放标准和出版物的全球领导者。JEDEC 委员会领导整个行业为广泛的技术领域制定标准。

 

JEDEC 委员会：JC-70 宽带隙功率电子转换半导体

JEDEC标准委员会认识到需要为功率半导体行业制定宽禁带（WBG）标准。2017年9月，宽禁带电力电子转换半导体委员会（JC70）成立，负责制定氮化镓（GaN）JC70.1和碳化硅（SiC）JC-70.2标准。每个领域均设有三个任务组，分别专注于开发可靠性与资质认证程序、确定技术资料中的元件与参数，以及制定测试与表征方法。

是德科技积极参与这些标准的开发工作。

 

随着 JEDEC 继续定义 WBG 器件的动态测试，某些标准化测试开始出现。Keysight PD1500A DPT 可确定这些关键性能参数：

 

  • 开通特性
  • 关断特性
  • 动态导通电阻
  • 动态电流和电压
  • 开关特性
  • 反向恢复
  • 栅极电荷
  • 推导出的输出特性

服务 支持