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特点
- 能够可靠、可重复地测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征。
- 测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征。
- 同时满足被测器件和用户对测试环境的要求。
- 模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试。
作为现成的测量解决方案，PD1500A 可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件。
这种确保 DPT 结果可重复的能力依托于是德科技先进的专业测量技术， 例如在高频测试（GHz 级）、低泄漏（飞安级）和脉冲功率（1,500 A 电流、10 μs 分辨率）等方面的创新。 这些创新使是德科技占据独特优势，可以有力地帮助您克服在动态功率半导体表征方面的挑战。
PD1500A 采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。 这些技术已在创新的测量拓扑和版图中使用。 另外，我们专门为本系统开发了半自动校准例程（AutoCal），用于校正系统增益和偏置误差。 该系统还使用去嵌入技术来补偿分流器中的电感寄生效应。
JEDEC 是为微电子行业开发开放标准和出版物的全球领导者。 JEDEC 委员会领导整个行业为广泛的技术领域制定标准。
JEDEC 委员会：JC-70 宽带隙功率电子转换半导体
JEDEC 标准委员会认识到需要为功率半导体行业制定 WBG 标准。 2017 年 9 月，JC70 宽带隙电力电子转换半导体委员会成立，负责制定 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2 标准。每个领域都有三个任务组，专注于开发可靠性和资质认证程序，确定技术资料中的元件和参数，以及制定测试和表征方法。
是德科技积极参与这些标准的开发工作。
随着 JEDEC 继续定义 WBG 器件的动态测试，某些标准化测试开始出现。 Keysight PD1500A DPT 可以确定这些关键性能参数：
- 开通特性
- 关断特性
- 动态导通电阻
- 动态电流和电压
- 开关特性
- 反向恢复
- 栅极电荷
- 推导出的输出特性
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