配件

基础 故障注入（FI）和侧信道分析（SCA）测试基础 ，在正确时间点生成触发脉冲是基础 ，但时钟抖动和随机程序中断会导致时序不准确，从而使这一操作变得困难。

DS1002A基于模式的触发器通过检测芯片电磁信号中的特定模式来生成触发脉冲，从而解决了这一问题。其独特的窄带通滤波器即使在噪声信号中也能实现模式检测。

DS1020A分析工作站是Inspector软件套件的标准PC工作站。

• 27英寸显示器
• 1 TB 固态硬盘（SSD）
• Windows 10
• 32 GB 内存

DS1106A 激光故障注入安全箱是一款用于激光故障注入测试的大型安全箱。

• 内部工作空间：69 厘米（宽）× 65 厘米（深）× 87.5 厘米（高）
• 适用于 DS1101A 故障注入激光系统和 DS1102A 双激光故障注入系统
• 符合FDA和CE认证的安全环境

1.5 A 毛刺放大器旨在使您的故障注入测试能够适用于各种嵌入式目标。只需将 1.5 A 毛刺放大器轻松连接至 Spider 或 VC Glitcher，即可在目标设备上产生清晰准确的毛刺信号；同时连接至示波器，即可测量并观察所生成的毛刺信号。

这款 1.5 A 毛刺放大器专为驱动嵌入式处理器的输入引脚而设计，其输出阻抗几乎为 0 Ω。DS1140A 可在 0 至 4 伏特 (V) 的单电源电压下工作。该电压在 Inspector 中设定，并通过 Spider 或 VC Glitcher 进行控制。

1.5 A 毛刺放大器的放大倍率为 2。 例如，当设定连续电压电平为 2 V 且毛刺峰值电压为 3 V 时，Spider 或 VC Glitcher 与 1.5 A 毛刺放大器之间的电压电平分别为 1 V 和 1.5 V。因此，DS1140A 与嵌入式处理器之间的电压电平分别为 2 V 和 3 V。

• 由于故障信号更尖锐，故障触发成功率有所提高
• 集成电流和功率监测器
• 将Spider或VC Glitcher产生的毛刺放大至峰峰值1.5 A
• 支持对FPGA和SoC等嵌入式设备进行故障模拟
• 通过 Glitch Amplifier II 提供的三个输出接口之一，即可轻松连接至目标设备
• 可轻松精确定位在目标正上方
• 包含Glitch Amplifier Needle
• 可选 3D 定位器（适用于 Glitch Amplifier 针头）
• 可与EM探针台底板配合使用。Glitch Amplifier II 与底板的网格完美契合。

要通过电源向嵌入式设备注入故障，需要专用设备。为了向目标设备可靠地注入毛刺，电源必须提供充足的功率且噪声极低，同时具备足够的功率来产生陡峭的电压尖峰。此外，还必须监测功耗，以识别感兴趣的区域并观察目标设备的行为。 是德科技 30 A 放大器将这些功能集成于一个独立组件中，适用于峰峰值电流消耗高达 10 A 的目标设备。

DS1141A 型号具备以下功能：

• 这是 Keysight 毛刺信号发生器或智能卡电压与时钟毛刺发生器的便捷扩展模块，用于放大嵌入式处理器的电源毛刺
• 包含内部电压和电流监测功能
• 包含两个外部电源

有源电流探头是一种能够主动检测电流的高频探头。这款高度灵敏的 DS1202A 探头用于侧信道分析，以测量目标设备的功耗，它插入目标设备的电源线中，可传输高达 2 GHz 的电流变化。有源电流探头需与基站配合使用，基站可用于放大测得的信号。

• 带宽 1 MHz–2,000 MHz
• 最大连续电流 100 mA（有效值）交流
• 最大脉冲电流 5 A
• 电流测量电路 ≤ 0.082 Ω，≤ 0.042 µH
• 主机最大增益为 40 dB

高精度电磁探头是一种用于侧信道分析的高灵敏度探头，可捕获半导体电路发出的电磁辐射。 该探头配备可更换机制，支持更换三种不同尺寸的探头尖端：0.2 mm、0.5 mm 和 1.25 mm。所有探头尖端均配有定向线圈和聚四氟乙烯保护外壳。通常与 XYZ 运动平台配合使用时，该探头可捕获频率高达 6 GHz 的电磁场，并将其转换为交流信号。

通过在目标表面移动，DS1203A 能够检测到高活性电路或热点。在热点处捕获的信号构成了简单或差分电磁分析的测量数据。这款高精度电磁探头配备可变增益机制，您可以通过手动操作或借助 Spider 等外部设备进行设置，并可根据目标的特性进行调整。

DS1210A 是一款输出功率极为精确的连续波激光器。可用于基于故障分析方法进行的侧信道测量。

• 1310 nm 连续波激光器
• 单模
• 500 兆瓦
• 长寿命激光二极管，老化极少
• 提供从粗略到精细的芯片表面扫描选项，光斑尺寸范围为100:1
• 适用于 DS1101A 故障注入激光系统和 DS1102A 双激光故障注入系统
• 使用 DS1160A 智能卡电压和时钟毛刺发生器或 DS1180A 毛刺信号发生器控制光功率

使用此红外环形灯和摄像头套件，可简化您 DS1101A 故障注入激光系统的背面激光导航。该套件包含一个红外环形灯、一个红外敏感替换摄像头，以及三个用于将环形灯固定在物镜上的磁吸支架。

用于故障注入测试系统的环形灯：

• LED类型：IR 1200 nm
• 尺寸：70.4 x 23 毫米
• 24个LED灯
• 工作距离约20毫米
• 包含磁吸支架，用于将环形灯固定在物镜上

体偏压注入（BBI）是故障注入领域中一项相对较新的技术，已被多种安全测试 所采用。通过将 DS1120A 或 DS1120B 单向故障注入探针与 DS1320A 体偏压注入探针针头配合使用，您可以确保您的芯片能够抵御这种攻击技术。 BBI探针可在极小的区域内注入故障，从而帮助您将安全漏洞精确定位到更具体的区域。

• 通过专属方案全面覆盖 BBI 攻击：正向（FBBI）、反向（RBBI）以及适用于所有芯片攻击场景的大电压范围
• 包括两支FBBI探头和两支RBBI探头，分别用于高电压和低电压
• 使用弹簧驱动的针头，防止基材被划伤
• 凭借最高 200 V 的输出电压，可穿透厚实的基材
• 通过 SMA 接口轻松连接 DS1120A 或 DS1120B 单向故障注入探头