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是德科技 8762A 具有出色的电气和机械性能,包括工作带宽大、隔离度高、驻波比低、使用寿命长以及重复性高等优点。
只购买您所需的性能!是德科技推出了全新系列的同轴锁定 开关,这些产品不仅延续了是德科技一贯的可靠性,还提供了更丰富的性能选项。如需了解更多信息,请访问N1810TL 同轴开关。
是德科技 N1812UL 同轴锁定开关具有出色的重复性、可靠性和使用寿命,且配置非常灵活。
有关配置选项和性能权衡的更多信息,请参阅在线产品概述。
详细了解是德科技单刀双掷开关——SPDT
是德科技 N1811TL 同轴锁定开关具有出色的重复性、可靠性和使用寿命,并提供卓越的配置灵活性。
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是德科技 N1810UL 同轴锁定开关具有出色的重复性、可靠性和使用寿命,并提供极佳的配置灵活性。
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是德科技 N1810TL 同轴锁定开关具有出色的重复性、可靠性和使用寿命,并提供极佳的配置灵活性。
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是德科技 U9397C FET 固态开关提供了更宽的频率范围(300 kHz 至 18 GHz),同时具备高隔离度、低驻波比(SWR)和快速开关速度,性能极为出色。适用于仪器仪表、通信、雷达,以及许多其他需要高速射频和微波 SPDT 开关的测试系统。
U9424A FET 固态开关在高达 26.5 GHz 的宽广工作频率范围内,提供了出色的隔离度和视频泄漏性能。您可以通过 USB 连接轻松控制这款 SP4T 开关,从而构建更灵活、更简单的系统。USB 连接支持灵活配置,既可配备多端口连接端口以连接 PXIe 或 USB VNA,也可选配焊接连接器。
是德科技 87406B 矩阵开关具有超长的使用寿命和出色的可靠性,适用于自动化测试与测量、信号监测和路由等应用。 创新的设计与精细的工艺控制共同造就了这款卓越的开关,能够满足测试仪器和开关接口对高重复性开关元件的严苛要求。该开关的设计使用寿命超过 1000 万次,且在前 500 万次操作内,所有电气技术指标均能保持达标。该开关具有出色的插入损耗重复性。 这不仅能减少测量路径中的随机误差,还能提高测量不确定度。对于生产测试系统、卫星和天线监测系统以及测试仪器而言,开关的使用寿命是一个必须考虑的关键因素。开关使用寿命越长,系统的正常运行时间就越长,所需的校准和维护也就越少,最终可降低用户的拥有成本。
注:除非另有说明,否则选件 024 和 161 均为默认选件。
是德科技 L7106B 多端口开关可提高射频和微波信号路由及测试应用的精度。 这款经济实惠的机电开关能够提供出色的隔离度和可重复性,确保在经过 200 万次重复操作后,插入损耗仅为 0.03 dB。L7106B 的低插入损耗和高可重复性可大幅减少测量路径中的随机误差,从而提高测量精度。 该开关的高重复性和可靠性不仅保证了测量的准确性,还能减少校准频率,延长测试系统的正常运行时间,从而降低拥有成本。是德科技严谨的设计和严苛的制造技术规范造就了这款开关极高的重复性。
是德科技 L7106B 负载终端多端口开关为信号监测和路由应用提供了经济实惠且性能可靠的解决方案,是从事系统集成的制造测试工程师的理想选择。
注:除非另有说明,选项 024 和 161 均为默认选项。
是德科技 87606B 矩阵开关具有超长的使用寿命和出色的可靠性,适用于自动化测试与测量、信号监测和路由等应用。 创新的设计与精细的工艺控制共同造就了这款卓越的开关,能够满足测试仪器和开关接口对高重复性开关元件的严苛要求。该开关的设计使用寿命超过 1000 万次,且在前 500 万次操作内所有电气技术指标均能保持达标。该开关具有出色的插入损耗重复性。 这不仅能减少测量路径中的随机误差,还能提高测量不确定度。对于生产测试系统、卫星和天线监测系统以及测试仪器而言,开关的使用寿命是一个必须考虑的关键因素。开关使用寿命越长,系统的正常运行时间就越长,所需的校准和维护也就越少,最终可降低用户的拥有成本。
注:除非另有说明,否则选件 161 是默认选件。
是德科技 L7104A 多端口开关可提高射频和微波信号路由及测试应用的精度。 这款经济实惠的机电开关能够提供出色的隔离度和可重复性,保证在重复使用 200 万次后,插入损耗仅为 0.03 dB。L7104A 的低插入损耗和高可重复性可大幅减少测量路径中的随机误差,从而提高测量精度。 该开关的高重复性和可靠性不仅保证了测量的准确性,还能减少校准频率,延长测试系统的正常运行时间,从而降低拥有成本。是德科技严谨的设计和苛刻的制造技术规范造就了这款开关极高的重复性。
是德科技 L7104A 负载终端多端口开关为信号监测和路由应用提供了经济实惠且性能可靠的解决方案,是从事系统集成的制造测试工程师的理想选择。
注:除非另有说明,选项 024 和 161 均为默认选项。