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探索是德科技全系列配件产品,专为完善和扩展您的仪器而设计。使用下方筛选器快速查找兼容配件,包括模块、电缆、适配器及其他系统组件,以配置、扩展和优化测试系统,满足您的特定测量需求。
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是德科技8762A示波器具备卓越的电气和机械性能,包括工作带宽大、隔离度高、驻波比低、使用寿命长以及重复性高等优势。
只购买您需要的性能!是德科技推出了全新系列的同轴闭锁开关,它们继承了是德科技产品一贯的 可靠性,同时提供了更广泛的性能选项。如欲了解更多信息,请访问N1810TL 同轴开关。
是德科技N1812UL同轴闭锁开关具有出色的可重复性、可靠性和使用寿命,配置起来非常灵活。
有关配置选项和性能折衷的更多信息,请参阅在线产品概述。
是德科技N1811TL同轴闭锁开关具有出色的可重复性、可靠性和使用寿命,并提供卓越的配置灵活性。
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是德科技N1810UL同轴闭锁开关具有出色的可重复性、可靠性和使用寿命,并提供优异的配置灵活性。
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是德科技N1810TL同轴闭锁开关具有出色的可重复性、可靠性和使用寿命,并提供优异的配置灵活性。
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是德科技U9397C FET固态开关提供了更宽的频率范围(300 kHz至18 GHz),同时具备高隔离度、低驻波比(SWR)和快速开关速度,性能极为优异。适用于仪器仪表、通信、雷达以及需要高速射频和微波SPDT开关的众多其他测试系统。
U9424A FET 固态开关在高达 26.5 GHz 的宽广工作频率范围内提供了出色的隔离度和视频泄漏性能。您可以通过 USB 连接轻松控制这款 SP4T 开关,构建更灵活、更简单的系统。USB 连接可灵活配置,既可配备多端口配置连接端口,用于连接 PXIe 或 USB VNA,也可选配焊接连接器。
Keysight 87406B 矩阵开关具有超长的使用寿命和出色的可靠性,适用于自动化测试和测量、信号监测和路由等应用。 创新的设计与精细的工艺控制共同成就了这款卓越的开关,可满足测试仪器和开关接口对高可重复性开关元件的严苛要求。开关设计使用寿命超过1000万次,且在至少500万次内所有电气技术指标均保持达标。该开关具有出色的插入损耗可重复性。 这不仅能减少测量路径中的随机误差,还能提高测量不确定度。对于生产测试系统、卫星和天线监测系统以及测试仪器而言,开关使用寿命是必须考虑的关键因素。开关使用寿命越长,系统的正常运行时间就越长,所需的校准和维护就越少,最终可降低用户的拥有成本。
注:除非另有说明,否则选件 024 和 161 均为默认选件。
是德科技 L7106B 多端口开关可提升射频和微波信号路由与测试应用的准确度。 这款经济实惠的机电开关能够提供出色的隔离度和可重复性,保证在重复使用 200 万次后插入损耗仅为 0.03 dB。L7106B 的低插入损耗和高可重复性可以大大减少测量路径中的随机误差,提高测量准确度。 该开关的可重复性和可靠性不仅确保了测量准确性,还能减少校准频率,延长测试系统的正常运行时间,最终降低拥有成本。是德科技严谨的设计和苛刻的制造技术规范造就了可重复性超高的开关功能。
是德科技 L7106B 负载端接多端口开关为信号监测和路由应用提供了经济实惠、性能可靠的解决方案,是从事系统集成工作的制造测试工程师的理想选择。
注:除非另有说明,选件 024 和 161 均为默认选件。
Keysight 87606B 矩阵开关具有超长的使用寿命和出色的可靠性,适用于自动化测试和测量、信号监测和路由等应用。 创新的设计与精细的工艺控制共同成就了这款卓越的开关,可满足测试仪器和开关接口对高可重复性开关元件的严苛要求。开关设计使用寿命超过1000万次,且在至少500万次内所有电气技术指标均保持达标。该开关具有出色的插入损耗可重复性。 这不仅能减少测量路径中的随机误差,还能提高测量不确定度。对于生产测试系统、卫星和天线监测系统以及测试仪器而言,开关使用寿命是必须考虑的关键因素。开关使用寿命越长,系统的正常运行时间就越长,所需的校准和维护就越少,最终可降低用户的拥有成本。
注:除非另有说明,否则选件 161 是默认选件。
是德科技 L7104A 多端口开关可提升射频和微波信号路由与测试应用的准确度。 这款经济实惠的机电开关能够提供出色的隔离度和可重复性,保证在重复使用 200 万次后插入损耗仅为 0.03 dB。L7104A 的低插入损耗和高可重复性可以大大减少测量路径中的随机误差,提高测量准确度。 该开关的可重复性和可靠性不仅确保测量准确性,还能减少校准频率,延长测试系统正常运行时间,最终降低拥有成本。是德科技严谨的设计和苛刻的制造技术规范造就了可重复性超高的开关功能。
是德科技 L7104A 负载端接多端口开关为信号监测和路由应用提供了经济实惠、性能可靠的解决方案,是从事系统集成工作的制造测试工程师的理想选择。
注:除非另有说明,选件 024 和 161 均为默认选件。