选择最精确的器件表征仪器取决于以下四个因素：
- 您的测试频率
- 该元件的阻抗范围
- 无论您需要单点测量还是扫频测量
- 无论您需要直流偏置还是高测试信号电平
是德科技提供频率范围为 20 Hz 至 3 GHz 的高精度LCR 表与阻抗分析仪 ，因此您可以根据待测元件选择合适的仪器。
LCR表还是阻抗分析仪：你需要哪一种？
LCR表：最适合在特定频率下进行快速、高精度的测量。是研发、来料检验和生产过程中验证元器件参数的理想工具。
阻抗分析仪：最适合用于了解元件在特定频率范围内的行为特性。非常适合用于查找谐振点、建模寄生参数以及表征半导体 和材料。
快速选择指南
- 最高2 MHz，最高基本精度：高精度LCR表
- 20 Hz 至 120 MHz 的扫频分析：阻抗分析仪
- 最高3 GHz的射频元器件和材料：射频阻抗分析仪
- 高频无源元件的生产：射频LCR表
通用组件表征的基准。
- 基本精度：0.05%，在低阻抗和高阻抗条件下均具有出色的重复性
- 测量速度：最快可达 5.6 毫秒
- 参数：R、L、C、ESR、Q、D、阻抗等
- 测试信号：最高 20 Vrms，可选配增强型直流偏置功能
- 横扫：201项清单横扫
- 误差校正：开路、短路和负载补偿，以及线长校正
- 最适合：电容器、电感器、电阻器及材料的研发和制造测量
另有低成本版本可供测试，最高支持 1 MHz。
远超 2 MHz 的高精度阻抗分析。
- 基本精度：±0.08%（典型值±0.045%）
- 阻抗范围：25 mΩ 至 40 MΩ（精度范围为 10%）
- 直流偏置：内置，0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA
- 分析工具：等效电路分析与极限线测试
- 最适合：谐振分析、寄生参数建模以及元器件、半导体 和材料的特性分析
在射频频率下进行精确的阻抗分析。
- 基本精度：±0.65%
- 阻抗范围：120 mΩ 至 52 kΩ（精度范围为 10%）
- 选项：直流偏置、介电和磁性材料测量、晶圆上测量
- 最适用于：射频电感器、电容器、铁氧体珠以及介电和磁性材料
适用于量产的快速、可重复的高频测试。
- 基本精度：0.8%
- 最适合：芯片电感器、电容器及其他高频无源元件的高速测试
不要只关注基本的准确性
基本精度是在理想条件下规定的。在您的应用中，精度还取决于以下因素：
- 被测设备的阻抗
- 测试频率和信号电平
- 施加的直流偏压
- 测试夹具、电缆长度及温度
无论您需要高精度LCR表提供的0.05%基本精度来测试低频元器件，还是需要阻抗分析仪进行高达120 MHz的扫频分析，抑或是需要射频阻抗分析仪进行高达3 GHz的射频特性分析，是德科技都能提供与您从研发到生产各个阶段需求相匹配的高精度阻抗解决方案。