- 概述
- 所有型号
- 支持
用于高速半导体模块化原型设计平台
KEYSIGHT 通用信号处理架构 (USPA) 提供了一个高性能、模块化、完全可编程的实时环境，用于超高速应用专用原型设计和验证。USPA 平台围绕业界领先的 ADC3 和 DAC3 数据转换器以及基于 FPGA 的数字信号处理构建，使工程师能够快速迭代和验证设计，从而降低风险、开发时间和成本。它支持 SoC/ASIC 原型设计、6G、光通信、雷达和进阶物理研究等应用。立即索取我们热门配置之一的报价。 需要帮助选择？请查看以下资源。
高速数据传输
实时捕获和生成信号，采用专为应对当今最严苛应用而打造的平台。
实时信号处理
借助支持FPGA的处理和软件工具，轻松实现和迭代开发，从而加速开发进程。
模块化且可扩展的设计
随着项目发展调整您的系统——选择即用型配置方案，或根据独特需求定制专属配置。
广泛的应用覆盖范围
从新一代无线和光系统到雷达及进阶 ，单一平台即可应对多样化的原型设计挑战。
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类型
预配置的，可配置的
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主板
2个FPGA插槽，1个或2个FPGA插槽
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现场可编程门阵列
赛灵思 VU9P 系列 FPGA，XCVU9P|XCVU13P|XCVU37P
最受欢迎的配置
通用信号处理体系结构——预先配置的系统
通用信号处理体系结构——可配置的系统
服务 支持
通过精心策划的支持方案、优先响应机制和快速周转时间，实现高效创新。
获取可预测的租赁式订阅服务和全生命周期管理解决方案——助您更快达成业务目标。
KeysightCare ，享受卓越服务，获得专属技术响应等更多权益。
确保您的测试系统符合规格要求，并满足本地及全球标准。
通过内部讲师指导的培训和在线学习，快速掌握测量技能。
下载是德科技软件或将您的软件更新至最新版本。
常见问题
基础 具有时变特性、快速切换特性或对自发热敏感的器件基础 同步控制是表征基础 。许多半导体现象——如电荷捕获、瞬态漏电流或动态导通电阻——均在微秒至纳秒时间尺度上显现。若供电单元与测量单元之间缺乏严格的时序对齐，这些效应可能被误判或完全遗漏。
USPA通过提供确定性时序引擎解决了这一问题，该引擎能以小于10纳秒的分辨率同时触发所有测量通道和激励波形。这确保了施加信号与器件响应之间精确的关联性。例如在表征氮化镓高电子迁移率晶体管时，必须精确对齐栅极和漏极脉冲才能测量上升时间、过冲和反向恢复特性。 USPA平台还能降低软件延迟和抖动，即使在复杂测试场景下也能获得可重复且可信赖的结果。
原型平台的设计兼具灵活性与可扩展性，使工程师能够根据具体测试需求配置系统。可根据应用需求增减模块，例如SMU（模拟电源单元）、波形发生器（WGFMU）、电容测量单元（CMU）及开关控制器等。原型平台作为同步中枢仪器 中央总线和指令集协调仪器 控制、触发与时序。这种设计方式可实现：
- 可扩展的测试环境，涵盖从单设备台式设置到大型自动化晶圆级探针台的各种配置。
- 跨域测量能力，例如在单次测试流程中整合IV、CV和脉冲测量。
- 可升级的系统设计，通过添加模块或增加通道数量即可满足未来测试需求，无需彻底改造现有配置。
这种模块化特性在不断演进的研究或生产工作流程中尤为宝贵，能够支持从晶体管建模到功率器件验证及材料表征等全方位需求。
基于信号处理架构的系统在需要精确、高速或多域测量协调的应用中表现卓越。关键应用领域包括：
- 脉冲IV/CV测试： 基础 表征氮化镓场效应晶体管、碳化硅MOSFET或CMOS晶体管等器件在非稳态条件下的基础 。
- 瞬态响应特性分析：研究快速信号转换过程中的开关行为、二极管恢复及电荷注入现象。
- 偏压温度不稳定性（BTI）与时间依赖性介电击穿（TDDB）： 采用间歇脉冲读数施加电压应力的长期 测试，用于监测器件退化。
- 材料与器件物理研究：探究新兴材料中的时间分辨载流子输运、电容瞬态响应及频率依赖行为。
- 可靠性与应力测试：通过严格控制电压、电流和脉冲宽度的自动化序列，模拟实际工作环境。
它们的确定性特性使其成为捕捉微妙行为的理想工具，这些行为在没有它们的情况下会被测量抖动或异步测试控制所掩盖。