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高效的晶圆级测试
光器件可以提高数据中心基础设施的设计裕量,并实现低能耗的目标,但是在数据速率越来越高的趋势下,它们正承受着巨大的压力。 各种形式的器件集成日益增多。
- 集成光电技术趁势兴起,它们通过将各种光器件集成为一体,可以增加平行光通道的数量
- 光集成电路(PIC)技术是集成和一体化封装硅电器件与光器件的基础
- 芯片制造商转向销售裸片(而非经过封装的器件),由下游工程师将这些裸片进一步集成到多裸片设计中。
- 这样便出现了一个商机――对已知合格裸片进行质量鉴定
- 从长期来看,器件集成之后,工程师就无法接触到其中的单个器件进行测试。 因此需要开发新的方法来测试包含多个裸片的集成器件
是德科技为硅光晶圆测试提供了完整的解决方案:
- 利用可调谐激光源、偏振合成器、多端口功率计和装有应用软件的源表模块进行波长和偏振相关测量
- 利用是德科技光波器件分析仪执行射频测试
- 利用 FormFactor 探针台进行自动晶圆探测
利用测试自动化加快测试速度
是德科技提供了以下产品,帮助您缩短测试时间并降低测试成本:
- KS8400A PathWave 自动测试平台(TAP),您可以通过它选择各种测试组合,定义和执行测量计划
- 包含 TAP 插件的自动光通信应用套件
- N7700210C 晶圆探针台插件,您可以利用它自动控制晶圆探测台
- N4370P01A LCA TAP 插件,与光波器件分析仪(LCA)配合使用,可自动执行光/电和电/光测量
一站式晶圆生产测试
是德科技还为测试工程师提供了强大的解决方案,协助他们使用全自动晶圆探针台进行硅光晶圆生产测试:
- 一站式综合解决方案
- 自动一次通过测试
- 量产准备
- 高吞吐量测试
- 保证的系统性能
- 专用支持型号
查找适合自己的解决方案套件
是德科技提供了特别有吸引力的硬件/软件/服务套件,全方位满足您的特定要求:
S2501A 无源光器件测试工具套件(包含调谐元件的无源器件)
S2502A 光接收机器件测试工具套件(仅直流)
S2503A 光接收机和调制器测试工具套件(直流和射频)
S2504A 光调制器测试工具套件(直流和射频)
S2505A 光双偏振 IQ 调制器在片测试工具套件(直流和射频)
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