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探索是德科技完整的软件产品组合，涵盖从设计工程工具到仪器软件旨在扩展和增强您仪器。无论您是在配置测量、自动化测试、分析数据还是验证合规性，都可以使用下面的筛选器来确定支持您工作流程的合适软件——从设计和验证到制造和部署。
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FlexDCA 采样示波器软件
是德科技N1010A FlexDCA软件在是德科技数字通信分析仪（DCA）系列采样示波器（又称为等效时间示波器）上运行。
是德科技N1010A FlexDCA软件在是德科技数字通信分析仪（DCA）系列采样示波器（又称为等效时间示波器）上运行。
FlexDCA 采样示波器软件
是德科技N1010A FlexDCA软件运行于其数字通信分析仪（DCA）系列采样示波器（又称等效时间示波器）上。DCA （例如有线通信和数据中心链路中使用的信号）的模拟属性。
FlexDCA 可由制造商负责安装到DCA 主机上，也可安装在计算机上以控制DCA 或远程控制DCA。
- 功能强大，使用灵活：内置基本测量功能，并可根据需要添加其他测量套件。
- 结果始终如一：可在设计阶段用于仿真和分析信号，在实验室中用于表征设计原型，还可在生产和支持阶段远程操作设备。
除了 N1010A FlexDCA 软件具备的数据采集和基本测量功能之外，是德科技还提供了种类丰富、功能强大的软件工具：
- N1010100A，用于FlexDCA 采样示波器软件的研发套件：该套件专为研发工程师打造，帮助其表征设计，更深入地分析信号偏离预期性能的根本原因。它包含 FlexRT 高级版软件，用于在UXR 光测量。
- N1010200A，用于FlexDCA 采样示波器软件的制造套件：该套件提供 FlexEye 等功能，可提升测量灵活性，从而显著降低光收发器制造应用的测试成本。它包含 TDECQ 和 FlexRT 基础版等软件，用于在UXR 光测量。
- N1010300A，用于FlexDCA 采样示波器软件的信号完整性分析套件：该套件新增了功能强大的测量工具，可测量阻抗和传输特性，计算 S 参数，并进行基础的 TDR/TDT 测量；同时新增 FlexPLL 软件，可执行锁相环测量。
- FlexOTO软件适用于对 800G/1.6T 和多通道应用执行高光通道数测试，以提升测试效率、提高DCA 硬件利用率，同时确保测量完整性不受影响。
如需确定传统 FlexDCA 功能选件与现有各个软件套件之间的对应关系，请参考 N1010x00A 分析套件映射表中的《DCA 》。
电气性能扫描 (EP-Scan)
是德科技的电气性能扫描（EP-Scan）软件可帮助硬件工程师快速识别PCB布局中的信号完整性问题，尽早发现设计错误，并轻松生成设计进度报告，从而帮助您更快地将产品推向市场。
是德科技的电气性能扫描（EP-Scan）软件可帮助硬件工程师快速识别PCB布局中的信号完整性问题，尽早发现设计错误，并轻松生成设计进度报告，从而帮助您更快地将产品推向市场。
电气性能扫描 (EP-Scan)
W9001E 电气性能扫描（EP-Scan）包括：
- 走线阻抗与时延分析
- 通道 S 参数分析
- TDR 阻抗图
- 标准技术指标检查程序
- 仿真报告生成
W9001E 是电气性能扫描（EP-Scan）应用软件的单用户版本。EP-Scan 是一款能够读取布局文件，并在仿真后生成信号完整性指标的轻量级应用软件。通过对目标网络进行仿真，它不仅能够分析走线的特征阻抗和时延，还能利用时域反射仪（TDR）测量回波损耗、插入损耗和阻抗。 EP-Scan 使工程师能够快速设置对多个网络的仿真，从而加快性能评估，并在设计过程中尽早发现问题。
晶圆探针台 TAP 插件
轻松将晶圆探针台控制程序整合到TAP测试序列中，提供全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案。
轻松将晶圆探针台控制程序整合到TAP测试序列中，提供全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案。
晶圆探针台 TAP 插件
用于集成光电的全自动晶圆级和芯片级测试解决方案
在TAP测试序列中轻松集成晶圆探针台控制程序
- 光电探头定位与对准测试步骤
- 支持阵列/单光纤探头、边缘和表面耦合、射频/直流探头以及灵活的探头方向（东/西/北/南）
- 自动化器件步进和探针台状态控制
- 测量测试计划和器件数据管理（器件坐标、器件元参数和测试条件的导入/导出/编辑）
支持的晶圆探针台
- Formfactor CM300xi 及 Velox 软件与硅光工具
KeysightPathWave （TAP）是一款基于 Microsoft .NET 的现代化应用软件，可通过仪器插件添加工作流程序列，无需使用仪器级编程命令。N7700210C 晶圆探针台插件通过处理与 Formfactor 半自动探针台硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具软件的连接，进一步简化了自动化。 这些测试步骤可与仪器测试执行步骤结合使用，完成测试计划中的晶圆卡盘运动、探头定位和对准任务。轻松配置用于定位、射频和光学探头的晶圆探针台设置。该平台既可独立使用，也可与更高级的测试可执行软件环境结合使用。
是德科技晶圆探针台样品测试计划及检测步骤
设备元件列表与元件光IO端口特性示例
LCA TAP 插件
利用 TAP 更轻松地实现 LCA 射频/光测量自动化
利用 TAP 更轻松地实现 LCA 射频/光测量自动化
LCA TAP 插件
在 TAP 测试序列中轻松整合 LCA 测量
- 进行光/电、电/光和光/光频谱测量的测试步骤
- 为测试配备单端或平衡射频端口的器件提供了测试步骤
- 为测量设置、校准和去嵌入提供了清晰的配置步骤
- 提供了设置模板，便于在 TAP 结果查看器中显示测试结果
支持的仪器
- 基于PNA ：N4373E、N4373D、N4373C、N4373B、N4375E、N4375D、N4375B、N4376E、N4376D 和 N4376B
KeysightPathWave （TAP）是一款基于 Microsoft .NET 的现代化应用软件，既可独立使用，也可与更高级的测试执行软件环境结合使用。 仪器插件提供了测试步骤，您可将这些步骤添加到工作流程序列中，无需使用仪器级编程命令。PNA ，并提供可轻松完成配置的测试步骤，进一步简化了自动化流程。
PathWave
这是PathWave 开发软件的最新版本。该版本提供了新的增强特性和功能，可利用实时 FPGA 功能来开发德科科技的定制设备。
这是PathWave 开发软件的最新版本。该版本提供了新的增强特性和功能，可利用实时 FPGA 功能来开发德科科技的定制设备。
PathWave
PathWave 编程环境
量身定制仪器，加速测量速度。极大便利了为硬件FPGA器件开发定制数字信号处理算法。重新配置仪器，缩短编译时间并提供定制处理功能。
- 在任意波形发生器和数字化仪上快速设计新型控制结构的原型
- 将您自己的逻辑插入到仪器FPGA中
- 一键将代码编译成能够在硬件上运行的程序
- 快速显示您的应用流程
- 利用固有的FPGA代码兼容性，优化设计流程
- 支持 VHDL、Verilog 和 Xilinx 项目以及 Xilinx IP 目录
89600 VSA 定制 OFDM 调制分析软件
通过信道、数据流和跨信道测量分析FDD、TDD、MIMO及用户系统等定制OFDM制式。
通过信道、数据流和跨信道测量分析FDD、TDD、MIMO及用户系统等定制OFDM制式。
用于 438A 的代码兼容性
N1913/14A 功率计与 legacy 438A 的代码兼容性
N1913/14A 功率计与 legacy 438A 的代码兼容性
适用于 436A 和 437B 的代码兼容性
N1913/14A 功率计与 Legacy 436A/437B 的代码兼容性
N1913/14A 功率计与 Legacy 436A/437B 的代码兼容性
时域分析仪
是德科技S95010B时域分析仪采用类似于时域反射仪(TDR)测试的转换方法，可将频域数据转换为时域数据或将时域数据转换为频域数据。点击进入是德科技官网查看详情！
是德科技S95010B时域分析仪采用类似于时域反射仪(TDR)测试的转换方法，可将频域数据转换为时域数据或将时域数据转换为频域数据。点击进入是德科技官网查看详情！
时域分析仪
- 具有完整误差校正的时域反射或传输响应
- 利用闸控删除不需要的响应（例如，来自测试夹具的响应）
- 将频域转换为时域或将时域转换为频域
- 适用于多种滤波器类型的调谐，包括腔谐振器滤波器
时域功能允许您测量设备的时间域响应。分析仪可将频域数据转换为时域数据，或将时域数据转换为频域数据。
时域分析仪采用的转换方法类似于时域反射仪 （TDR）测试 。然而，TDR测试仪是通过向测试设备发射脉冲或阶跃，并使用类似示波器的接收器实时观察响应来实现的。相比之下，时域分析仪则进行扫频响应测量，并将数据以数学方式转换至显示器，类似于时域反射仪的工作原理。
时域是什么？
时域可用于测量传输线上的阻抗值，并用于评估设备在时间或距离上的问题（不连续性）。
时域显示能够更直观、更直接地观察被测设备（DUT）的特性，并通过将每个不连续性的影响显示为时间或距离的函数，提供比其他测量技术更有意义的传输系统宽带响应信息。
TDR时域反射仪是什么？
时域反射仪（TDR）是一种用于测量被测元件（器件）DUT阻抗剖面的测量工具。其原理简明直接：通过阶跃发生器和示波器向被测器件发送快速脉冲边沿。当阻抗发生中断时，部分脉冲将返回至监测示波器。通过监测反射信号抵达示波器的时间（以及脉冲在被测器件内的传播速度），即可确定中断位置。此外，通过对比反射脉冲与被测器件接收的原始脉冲幅度，可确定阻抗中断的幅度。因此，这种"回波技术"能轻松识别线路中阻抗是否发生变化。运用分析技术，可揭示线路中断现象的本质（电阻型、电感型或电容型），并确认传输系统内的衰减是由串联损耗还是由分流损耗引发。示波器显示屏将即时呈现上述信息。与其他反射计方法仅在固定频率范围内测试不同，由于快速脉冲阶跃激励属于宽带激励，时域反射仪TDR能提供与传输系统宽带特性相关的重要信息。
时域分析的作用
在测量传输线各点阻抗值以及检查被测器件在时域或距离域中存在的问题（例如器件特征的不连续性）时，时域分析功能非常有用。时域分析结果的显示形式更为直观，可直接观察被测器件(DUT)的特征；在测量传输线系统的宽带响应特征方面，与其他测试技术相比，时域分析技术通过将每个不连续性的影响显示为时间或距离函数，能提供更具意义的信息。
InfiniiVision HD3系列示波器功率分析软件
是德InfiniiVision 示波器 电源软件包示波器 广泛的自动化电源特性测量，包括关键频率响应测量，例如电源抑制比（PSRR）和控制回路响应。
是德InfiniiVision 示波器 电源软件包示波器 广泛的自动化电源特性测量，包括关键频率响应测量，例如电源抑制比（PSRR）和控制回路响应。
InfiniiVision HD3系列示波器功率分析软件
输入测量值
- 电能质量：有功功率、视在功率、无功功率、功率因数、波峰因数（电压与电流）、相位角
- 电流谐波（依据IEC 61000-3-2标准，涵盖至40次谐波）
- 浪涌电流
切换测量
- Rds-on 和 Vce-sat
- 开关损耗（功率与能量）
- 压摆率（dv/dt 和 di/dt）
- 调制（占空比、脉冲宽度、周期、频率等随时间变化的曲线图）
输出测量
- 输出纹波
- 开启/关闭时间
- 瞬态响应时间
- 效率
频率响应测量
- 电源抑制比（PSRR）——波德图
- 控制回路响应 – 伯德
是德InfiniiVision 示波器 电源软件包示波器 广泛的自动化电源特性测量，包括关键频率响应测量，例如电源抑制比（PSRR）和控制回路响应。
射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 调制射频
W5307B 基于数字调制射频激励的射频系统设计与系统框图性能分析，用于预测、诊断和修复EVM损伤。了解更多信息！
W5307B 基于数字调制射频激励的射频系统设计与系统框图性能分析，用于预测、诊断和修复EVM损伤。了解更多信息！
射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 调制射频
W5307B 射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 调制射频”包括：
- 面向 ADS 用户的个人电路合成和射频系统设计工具
- 射频系统架构与预算分析
- 数字调制射频源，用于误差矢量幅度（EVM）和相邻通道功率比（ACPR）系统仿真
- 12种射频电路合成，例如集总式/分布式/定制滤波器和匹配电路
“核心 + 合成 + 系统 + 调制射频”实现了集总式和分布式射频电路的全面合成，以及数字调制射频激励下的射频系统设计与系统框图性能分析。 预测、诊断和修复故障系统块导致的误差矢量幅度（EVM）损伤，以实现最佳射频系统性能。支持是德科技产品的频率相关系统参数，可在仿真中对现成系统块进行精确建模。
射频合成软件核心 + 系统 + 调制射频
核心 + 系统架构，以及用于调制射频系统分析（如EVM、ACPR、星座图）的WhatIF频率规划与数据流模拟器（基于Genesys引擎）。
核心 + 系统架构，以及用于调制射频系统分析（如EVM、ACPR、星座图）的WhatIF频率规划与数据流模拟器（基于Genesys引擎）。
射频合成软件核心 + 系统 + 调制射频
W5306B 射频合成软件核心 + 系统 + 调制射频 包括：
- 核心环境、线性仿真器、原理图、数据显示、版图、仪器链路、MATLAB
- 射频系统仿真与频率规划
- 数字调制射频源，用于误差矢量幅度（EVM）和相邻通道功率比（ACPR）系统仿真
- 系统参数支持
射频系统架构设计（SpectraSys）提供精确的行为框图以及基于德科技系统参数数据的频率相关系统框图，可根据符合EVM和ACPR技术指标的数字调制射频源完整分析非线性系统框图性能。 独特的根本原因诊断法能够找出削弱系统性能的故障元器件，确保为整个链条选择最佳的系统元器件技术指标，并避免成本高昂的硬件返工和迭代。WhatIF 可即时找出无杂散中频段，以便设计用于高侧或低侧本振信号的多频段降频转换器。
