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探索是德科技完整的软件产品组合，涵盖从设计工程工具到仪器软件旨在扩展和增强您仪器。无论您是在配置测量、自动化测试、分析数据还是验证合规性，都可以使用下面的筛选器来确定支持您工作流程的合适软件——从设计和验证到制造和部署。
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FlexDCA 采样示波器软件
是德科技 N1010A FlexDCA 软件可在是德科技数字通信分析仪（DCA）系列的采样示波器（也称为等效时间示波器）上运行。
是德科技 N1010A FlexDCA 软件可在是德科技数字通信分析仪（DCA）系列的采样示波器（也称为等效时间示波器）上运行。
FlexDCA 采样示波器软件
是德科技（Keysight）N1010A FlexDCA 软件可在是德科技数字通信分析仪（DCA）系列采样示波器（也称为等效时间示波器）上运行。DCA 能够帮助您显示和分析高速信号（例如有线通信和数据中心链路中使用的信号）的模拟特性。
FlexDCA 由制造商负责安装到DCA-X 主机上，也可以安装在计算机上，用于控制DCA-M 或远程控制DCA-X。
- 功能强大，使用灵活：内置基本测量功能，并可根据需要添加其他测量套件。
- 结果始终如一：既可在设计阶段用于信号仿真和分析，又可在实验室中用于设计原型的表征，还可在生产和支持阶段远程操作设备。
除了 N1010A FlexDCA 软件所具备的数据采集和基本测量功能外，是德科技还提供了种类丰富、功能强大的软件工具：
- N1010100A，用于FlexDCA 采样示波器软件研发的套件：该套件专为研发工程师设计，可帮助其对设计进行表征，并更深入地分析信号偏离预期性能的根本原因。它包含 FlexRT 高级版软件，用于在UXR 系列示波器上进行光测量。
- N1010200A，用于FlexDCA 采样示波器软件的制造套件：该套件提供了 FlexEye 等功能，可提高测量灵活性，从而显著降低光收发器制造应用的测试成本。它包含 TDECQ 和 FlexRT 基础版等软件，用于在UXR 系列示波器上进行光测量。
- N1010300A，用于FlexDCA 采样示波器软件的信号完整性分析套件：该套件新增了功能强大的测量工具，可测量阻抗和传输特性、计算 S 参数，并进行基本的 TDR/TDT 测量；此外还新增了 FlexPLL 软件，可执行锁相环测量。
- FlexOTO软件适用于对 800G/1.6T 及多通道应用执行高光通道数测试，以提升测试效率，提高DCA-M 硬件的使用率，同时不会影响测量完整性。
如需确定传统 FlexDCA 功能选件与现有各软件套件之间的对应关系，请参阅 N1010x00A 分析套件映射表中的《DCA 配置指南》。
电气性能扫描 (EP-Scan)
是德科技的电气性能扫描（EP-Scan）软件可帮助硬件工程师快速识别PCB布局中的信号完整性问题，尽早发现设计错误，并轻松生成设计进度报告，从而帮助您更快地将产品推向市场。
是德科技的电气性能扫描（EP-Scan）软件可帮助硬件工程师快速识别PCB布局中的信号完整性问题，尽早发现设计错误，并轻松生成设计进度报告，从而帮助您更快地将产品推向市场。
电气性能扫描 (EP-Scan)
W9001E 电气性能扫描（EP-Scan）包括：
- 走线阻抗与时延分析
- 通道 S 参数分析
- TDR 阻抗图
- 标准技术指标检查程序
- 仿真报告生成
W9001E 是电气性能扫描（EP-Scan）应用软件的单用户版本。EP-Scan 是一款能够读取布局文件，并在仿真后生成信号完整性指标的轻量级应用软件。通过对目标网络进行仿真，它不仅能够分析走线的特征阻抗和时延，还能利用时域反射仪（TDR）测量回波损耗、插入损耗和阻抗。 EP-Scan 使工程师能够快速设置对多个网络的仿真，从而加快性能评估，并在设计过程中尽早发现问题。
晶圆探针台 TAP 插件
可轻松将晶圆探针台控制程序集成到 TAP 测试序列中，提供全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案。
可轻松将晶圆探针台控制程序集成到 TAP 测试序列中，提供全自动的晶圆级和芯片级集成光电测试解决方案。
晶圆探针台 TAP 插件
用于集成光电的全自动晶圆级和芯片级测试解决方案
在 TAP 测试序列中轻松集成晶圆探针台控制程序
- 光电探头定位和对准测试步骤
- 支持阵列/单光纤探头、边缘耦合和表面耦合、射频/直流探头以及灵活的探头方向（东/西/北/南）
- 自动化设备步进及探针台状态控制
- 测量测试计划和器件数据管理（器件坐标、器件元参数及测试条件的导入/导出/编辑）
支持的晶圆探针台
- Formfactor CM300xi 以及 Velox 软件和硅光工具
是德科技PathWave 测试自动化平台（TAP）是一款基于 Microsoft .NET 的现代化应用程序，可通过仪器插件添加工作流序列，无需使用仪器级编程命令。N7700210C 晶圆探针台插件通过处理与 Formfactor 半自动探针台硬件以及 Formfactor Velox 和硅光工具软件的连接，进一步简化了自动化流程。 这些测试步骤可与仪器测试执行步骤结合使用，以完成测试计划中的晶圆卡盘运动、探针定位和对准任务。可轻松配置用于定位、射频和光学探针的晶圆探针台设置。该插件既可独立使用，也可与更高级的测试可执行软件环境结合使用。
是德科技的晶圆探针台样品测试计划及探测步骤
设备元件列表及元件光IO端口特性示例
LCA TAP 插件
利用 TAP 更轻松地实现 LCA 射频/光测量自动化
利用 TAP 更轻松地实现 LCA 射频/光测量自动化
LCA TAP 插件
在 TAP 测试序列中轻松集成 LCA 测量
- 进行光/电、电/光和光/光光谱测量的测试步骤
- 提供了用于测试配备单端或平衡射频端口的器件的测试步骤
- 提供了关于测量设置、校准和去嵌入的清晰配置步骤
- 提供了设置模板，以便在 TAP 结果查看器中显示测试结果
支持的仪器
- 基于PNA 的光波元器件分析仪：N4373E、N4373D、N4373C、N4373B、N4375E、N4375D、N4375B、N4376E、N4376D 和 N4376B
是德科技PathWave 测试自动化平台（TAP）是一款基于Microsoft .NET的现代化应用程序，既可独立使用，也可与更高级的测试执行软件环境结合使用。仪器插件提供了测试步骤，您可以将这些测试步骤添加到工作流序列中，无需使用仪器级编程命令。LCA插件步骤通过处理与PNA 仪器及LCA光学软硬件的连接，并提供可轻松完成的测试步骤配置，进一步简化了自动化流程。
PathWave FPGA
这是PathWave FPGA开发软件的最新版本。该版本提供了新的增强特性和功能，利用实时FPGA功能打造德科科技的定制设备。
这是PathWave FPGA开发软件的最新版本。该版本提供了新的增强特性和功能，利用实时FPGA功能打造德科科技的定制设备。
PathWave FPGA
PathWave FPGA 编程环境
量身定制仪器，加快测量速度。极大地方便了针对硬件 FPGA 器件开发定制的数字信号处理算法。重新配置仪器，缩短编译时间并提供定制处理功能。
- 在任意波形发生器和数据采集仪上快速设计新控制结构的原型
- 将您自己的逻辑嵌入到仪器的 FPGA 中
- 一键将代码编译成可在硬件上运行的程序
- 快速展示您的应用流程
- 利用 FPGA 固有的代码兼容性，优化设计流程
- 支持 VHDL、Verilog 和 Xilinx 项目，以及 Xilinx IP 目录
89600 VSA 定制 OFDM 调制分析软件
通过信道、数据流和跨信道测量，分析FDD、TDD、MIMO和用户系统等定制OFDM制式。
通过信道、数据流和跨信道测量，分析FDD、TDD、MIMO和用户系统等定制OFDM制式。
时域分析仪
是德科技S95010B时域分析仪采用与时域反射仪（TDR）类似的转换方法进行测试，可将频域数据转换为时域数据，或将时域数据转换为频域数据。点击进入是德科技官网查看详情！
是德科技S95010B时域分析仪采用与时域反射仪（TDR）类似的转换方法进行测试，可将频域数据转换为时域数据，或将时域数据转换为频域数据。点击进入是德科技官网查看详情！
时域分析仪
- 经过完整误差校正的时域反射或传输响应
- 利用闸控功能删除不需要的响应（例如，来自测试夹具的响应）
- 将频域转换为时域，或将时域转换为频域
- 有助于对多种滤波器类型进行调谐，包括腔谐振器滤波器
时域功能可让您测量设备的时域响应。分析仪可将频域数据转换为时域数据，或将时域数据转换为频域数据。
时域分析仪采用的转换方法与时域反射仪 （TDR）测试类似 。然而，TDR测试仪是通过向被测设备发射脉冲或阶跃信号，并使用类似于示波器的接收器实时观察响应来实现的。相比之下，时域分析仪则需要进行扫频响应测量，并将数据以数学方式转换到显示器上，这与时域反射仪类似。
时域是什么？
时域可用于测量传输线上的阻抗值，并用于评估设备在时间或距离上的问题（不连续性）。
时域显示能够更直观、更直接地观察被测设备（DUT）的特性，并通过将每个不连续点的影响表示为时间或距离的函数，提供比其他测量技术更有意义的关于传输系统宽带响应的信息。
TDR时域反射仪是什么？
时域反射仪（TDR）是一种用于测量被测元件（器件）DUT阻抗分布的测量工具。其工作原理简明直接。通过使用阶跃发生器和示波器，可向被测器件发送快速脉冲边沿。如果阻抗发生中断，部分脉冲将返回至监测示波器。通过监测反射信号到达示波器的时间（以及被测器件内的脉冲传播速度），即可确定中断位置。此外，通过比较反射脉冲与被测器件接收到的原始脉冲的幅度，可以确定中断的幅度。因此，这种“回波技术”可以轻松确定线路中的阻抗是否发生变化。利用分析技术，可揭示线路中断现象的本质（电阻性、电感性或电容性），并确认传输系统内的衰减是由串联损耗还是由分流损耗引起的。示波器屏幕上将即时显示上述信息。与其他仅在固定频率范围内进行测试的反射计方法不同，由于快速脉冲阶跃激励属于宽带激励，因此时域反射仪（TDR）能够提供与传输系统宽带特性相关的重要信息。
时域分析的作用
在测量传输线各处的阻抗值，以及在时域或距离域中检查被测器件存在的问题（例如器件特性的不连续性）时，时域分析功能非常有用。时域分析结果的显示形式更为直观，可直接观察到被测器件(DUT)的特性；在测量传输线系统的宽带响应特性方面，与其他测试技术相比，时域分析技术通过将每个不连续点的影响表示为时间或距离函数，从而能够提供更具实际意义的信息。
适用于InfiniiVision HD3系列示波器的功率分析软件
是德科技InfiniiVision HD3系列示波器 的电源软件包支持广泛的自动化电源特性测试，包括电源抑制比（PSRR）和控制环路响应等关键频率响应测量。
是德科技InfiniiVision HD3系列示波器 的电源软件包支持广泛的自动化电源特性测试，包括电源抑制比（PSRR）和控制环路响应等关键频率响应测量。
适用于InfiniiVision HD3系列示波器的功率分析软件
输入测量值
- 电能质量：有功功率、视在功率、无功功率、功率因数、峰值因数（V 和 I）、相位角
- 电流谐波（基于IEC 61000-3-2标准，最高至第40次谐波）
- 浪涌电流
开关测量
- Rds-on 和 Vce-sat
- 开关损耗（功率和能量）
- 上升率（dv/dt 和 di/dt）
- 调制（占空比、脉冲宽度、周期、频率等随时间变化的曲线图）
输出测量
- 输出纹波
- 开启/关闭时间
- 瞬态响应时间
- 效率
频率响应测量
- 电源抑制比（PSRR）——波德图
- 控制回路响应——博德图
是德科技InfiniiVision HD3系列示波器 的电源软件包支持广泛的自动化电源特性测试，包括电源抑制比（PSRR）和控制环路响应等关键频率响应测量。
射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 射频调制
W5307B 利用数字调制射频激励下的射频系统设计与系统模块图性能分析，用于预测、诊断和修复 EVM 损伤。了解更多信息！
W5307B 利用数字调制射频激励下的射频系统设计与系统模块图性能分析，用于预测、诊断和修复 EVM 损伤。了解更多信息！
射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 射频调制
“W5307B 射频合成软件核心 + 合成 + 系统 + 调制射频”包括：
- 面向 ADS 用户的个人电路综合和射频系统设计工具
- 射频系统架构与预算分析
- 数字调制射频源，用于误差矢量幅度（EVM）和相邻信道功率比（ACPR）的系统仿真
- 12 种射频电路设计，例如集中式/分布式/定制滤波器和匹配电路
“核心 + 合成 + 系统 + 调制射频”实现了集中式和分布式射频电路的全面合成，以及基于数字调制射频激励的射频系统设计和系统模块图性能分析。 预测、诊断并修复由故障系统模块导致的误差矢量幅度（EVM）劣化，从而实现最佳的射频系统性能。支持是德科技产品的频率相关系统参数，可在仿真中对现成的系统模块进行精确建模。
射频合成软件核心 + 系统 + 射频调制
核心 + 系统架构，以及用于调制射频系统分析（如EVM、ACPR、星座图）的WhatIF频率规划与数据流仿真器（基于Genesys引擎）。
核心 + 系统架构，以及用于调制射频系统分析（如EVM、ACPR、星座图）的WhatIF频率规划与数据流仿真器（基于Genesys引擎）。
射频合成软件核心 + 系统 + 射频调制
“W5306B 射频合成软件核心 + 系统 + 调制射频”包括：
- 核心环境、线性仿真器、原理图、数据可视化、布局、仪器连接、MATLAB 脚本
- 射频系统仿真与频率规划
- 数字调制射频源，用于误差矢量幅度（EVM）和相邻信道功率比（ACPR）的系统仿真
- 系统参数支持
射频系统架构设计（SpectraSys）提供了精确的行为框图以及基于是德科技系统参数数据的频率相关系统框图，可根据符合 EVM 和 ACPR 技术指标的数字调制射频源，全面分析非线性系统框图的性能。 独特的根本原因诊断方法能够找出导致系统性能下降的故障元器件，确保为整个链路选择最佳的系统元器件技术指标，并避免成本高昂的硬件返工和迭代。WhatIF 可以即时找出无杂散的中频段，以便设计用于高侧或低侧本振信号的多频段降频转换器。
射频合成软件核心 + 合成
W5300B射频合成软件核心是一款价格适中、易于使用的全功能设计环境，包含原理图捕获、线性仿真器和统计仿真器、优化、布局、数据可视化、MATLAB 脚本编程以及测试仪器连接功能。
W5300B射频合成软件核心是一款价格适中、易于使用的全功能设计环境，包含原理图捕获、线性仿真器和统计仿真器、优化、布局、数据可视化、MATLAB 脚本编程以及测试仪器连接功能。
射频合成软件核心 + 合成
“W5301B 射频合成软件核心 + 合成”包括：
- 12 种自动射频综合方案提供了业界覆盖范围最广的无源/有源电路综合能力
- 将常规但困难的设计任务从几小时缩短至几分钟，例如复杂的宽带阻抗匹配、定制滤波器响应以及离散 RLC 参数
“射频合成软件核心 + 合成”提供了业内覆盖范围最广的无源和有源电路合成功能。合成模块可创建高性能电路，将常规设计任务的时间从数小时缩短至数分钟，并有助于快速做出“自制或采购”射频元器件的决策。12 个自动射频电路合成模块均包含在合成插件的“核心”功能中。
射频合成软件核心 + 系统
W5302B 《PathWave 》RF 综合核心系统是一款用于射频系统与线性电路设计的精准软件，能够识别并修复影响性能的模块。
W5302B 《PathWave 》RF 综合核心系统是一款用于射频系统与线性电路设计的精准软件，能够识别并修复影响性能的模块。
射频合成软件核心 + 系统
“W5302B 射频合成软件核心 + 系统”包括：
- 采用根本原因分析法的射频系统仿真（SpectraSys）能够识别并修复导致系统性能下降的系统模块
- 系统频率规划（WhatIF）可识别来自高侧或低侧本振（LO）的无杂散中频带
- 系统参数支持
射频系统架构设计（SpectraSys）提供精确的行为框图以及基于是德科技系统参数数据的频率相关系统框图，可全面分析非线性系统框图的性能。其独特的根本原因诊断法能够找出导致系统性能下降的故障元件，例如传统电子表格计算所忽略的非线性杂散互调干扰的源头。 WhatIF 能够即时识别无杂散的中频带，以便设计用于高侧或低侧本振信号的多频带降频转换器。
