如何表征低功耗集成电路

精密源/测量单元
+ 精密 源/测量单元

采用源测量单元表征低功耗集成电路

测量低功耗集成电路(IC)电流/电压特性的常规测试装置需要多种基础仪器。该装置包含多个电源,用于向不同电压要求的测试端口提供所需电压,并数字万用表 DMM)用于测量电压和电流。某些测试场景还需脉冲发生器模拟信号,以及数字化仪在时域内捕获信号。

使用源测量单元(SMU)作为电源,配合电流表、电压表和数字化仪执行多通道同步电流/电压(IV)测量。在进行任何睡眠电流测量前,需设置仪器自校准功能并确保测量范围精准,尤其针对电流精度低于毫安(mA)级别的集成电路。 为确保动态测量精度,SMU的采样速率必须足够快,以捕捉器件从睡眠状态切换至活动状态时的瞬态信号。

低功耗集成电路特性分析解决方案

低功耗集成电路的特性分析需要多种基础仪器 多路电源、数字万用表 DMM)、脉冲发生器和数字化仪。是德科技的低功耗IC特性分析解决方案包含PZ2100系列智能电源单元(SMU),可在1U机架空间内提供20个SMU通道,并集成脉冲发生器/数字化仪,同时配备PW9251APathWave 曲线测量软件。 该解决方案支持在极低电流和电压水平下,于多种工作条件下执行IV特性测试,从而验证电路设计、识别故障或问题,并优化其性能表现。

查看低功耗集成电路特性分析演示

探索我们低功耗集成电路表征解决方案中的产品

相关使用场景

联系我们 标识

请联系我们的专家之一

需要帮助找到适合您的解决方案吗?