如何提高TDECQ的测量精度

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+ 模块化 采样示波器

提高 TDECQ 测量的相关性和重复性

发射机与色散眼图闭合四元值（TDECQ）是IEEE 802.3光接口规范中定义的一项关键指标，用于评估400G、800G以及新兴的1.6T互连中PAM4光发射机的性能。工程师利用TDECQ来量化由波形失真、噪声和色散引起的功率损耗，但该测量结果对测试条件极为敏感。光输入功率、参考接收机响应、均衡器优化、时钟恢复行为或波形采集方面的微小变化，都可能导致开发、验证和制造环境中的测试结果不一致，从而使合规性关联和故障排查变得复杂。

工程师使用示波器符合 IEEE 标准的参考接收机滤波器、时钟恢复和虚拟均衡功能的模式锁定采样示波器进行 TDECQ 分析。该工作流程采集SSPRQ波形，应用标准化的带宽滤波和均衡器优化，并计算由此产生的发射机功率损耗。模块化采样架构通过将经过校准的光学采集硬件直接放置在测量接口处，同时保持受控的信号路径，从而提高了测量的重复性。这种方法减少了与光学连接、信道响应和系统配置相关的变异性，提高了预符合性验证结果的可靠性。

精确的TDECQ测量解决方案

要提高 TDECQ 测量精度，需要控制光信号采集、参考接收机的响应、时钟恢复行为以及均衡器配置，以最大限度地减少受设置影响的波动。是德科技的 TDECQ 测量解决方案将模块化采样示波器架构与经过校准的光测量模块及 FlexDCA 分析软件相结合，从而实现波形采集和 TDECQ 处理的标准化。工程师可以应用符合 IEEE 标准的参考接收机滤波器，优化均衡器设置，保持一致的光信号条件，并提高多个通道和测试系统之间的相关性。

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